[发明专利]一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法

说明书

本发明公开了一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：构建关键分系统/设备‑系统评估框架；步骤2：获取在某外部强电磁环境作用下，各关键分系统/设备的实际电磁加载；步骤3：获取关键分系统/设备在不同电磁加载下的受损概率，得到受损概率曲线；步骤4：依据实际电磁加载和受损概率曲线，计算关键分系统/设备的受损概率；步骤5：利用关键分系统/设备‑系统评估框架，根据关键分系统/设备的受损概率确定电子系统对某强电磁环境的适应概率。本发明无需苛刻的试验条件，也不过分分解电子系统的结构功能，即可实现电子系统对某强电磁环境适应能力的量化评估，给出具有高置信度的评估结果。

技术领域

本发明涉及电磁环境效应技术领域，尤其是一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法。

背景技术

强电磁脉冲具有强度大、覆盖频谱范围宽等特点，既可通过天线等“前门”通道，也可通过线缆、孔缝等“后门”通道耦合进入电子系统内部，在系统电子设备的输入/输出端口产生感应电压和感应电流，进而使电子系统出现不同程度的电磁环境效应，如：干扰、扰乱、损伤以及毁伤等，影响系统的正常工作。因此，近年来国内外都十分关注电子系统在强电磁脉冲环境下的生存能力，努力发展强电磁环境适应性评估与防护加固理论与试验技术。

目前，针对电子系统强电磁环境适应性评估，国内外的研究主要包括两类：一类是整系统试验评估方法；另一类是基于评估模型的评估方法。通过整系统试验评估方法，可以直接判断电子系统能否达到某强电磁环境适应性要求；并且，通过多次、多样本试验，可以获得电子系统对强电磁环境的适应概率。但是，通过该方法很难判别系统的薄弱环节。特别地，整系统试验评估方法对试验条件要求非常高，实际尺寸比较大的目标难以进行整系统试验评估。因此，近年来一些国内外的专家和学者开始关注基于评估模型的评估方法，构建基于电子系统工作原理或结构功能的数字化模型，实现局部损伤对全系统功能影响的评估。基于评估模型的评估方法可极大降低对试验条件的要求，但要构建高逼真度的评估模型较为困难，且该类方法还存在给出的评估结果置信度不高的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对上述存在的问题，提供一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，该方法结合试验评估与数学模型评估的优点，无需苛刻的试验条件，也不过分分解电子系统的结构功能，即可实现电子系统对某强电磁环境适应能力的量化评估，给出具有高置信度的评估结果。

本发明采用的技术方案如下：

一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，包括如下步骤：

步骤1：构建关键分系统/设备-系统评估框架；

步骤2：获取在某外部强电磁环境作用下，各关键分系统/设备的实际电磁加载；

步骤3：获取关键分系统/设备在不同电磁加载下的受损概率，得到受损概率曲线；

步骤4：依据实际电磁加载和受损概率曲线，计算关键分系统/设备的受损概率；

步骤5：利用关键分系统/设备-系统评估框架，根据关键分系统/设备的受损概率确定电子系统对某强电磁环境的适应概率。

进一步地，步骤1包括如下子步骤：

步骤1.1，在某外部强电磁环境下，按功能结构关系对被评估电子系统进行分解，并依据功能重要程度和电磁敏感度筛选出关键分系统/设备，关键分系统/设备数量为N；

步骤1.2，结合电磁拓扑理论，并依据关键分系统/设备与系统间的功能结构关系，构建出关键分系统/设备-系统评估框架；

步骤1.3，在该评估框架下，电子系统对某强电磁脉冲环境的适应概率按公式计算；

式中，P_i表示第i个关键分系统/设备的受损概率。