[发明专利]一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器和芯片在审

专利信息
申请号: 202010164494.2 申请日: 2020-03-11
公开(公告)号: CN111208090A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 吴胜旭;吴伟娜;王文华;严立逊;黎珊珊;夏晓冰 申请(专利权)人: 广州市加和检测技术服务有限公司;广东海洋大学
主分类号: G01N21/552 分类号: G01N21/552
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 代理人: 张雪
地址: 515100 广东省广州市天*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 聚糖 检测 重金属 离子 spr 传感器 芯片
【权利要求书】:

1.一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,金属膜表面增覆分子敏感膜,所述金属膜的另一表面增覆铬膜,所述分子敏感膜为活性层膜。

2.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述金属膜为金膜或银膜。

3.根据权利要求2所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述银膜的厚度为25-45nm;所述金膜的厚度为10-20nm。

4.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述铬膜的厚度为3-5nm。

5.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述活性层膜为壳聚糖-碳点膜,所述壳聚糖-碳点膜是在配制好的壳聚糖溶液中缓慢撒入碳点,超声搅拌5-20min,通过旋涂法涂膜;其中,所述壳聚糖溶液与碳点的体积质量比为30mL:0.5-10g;所述壳聚糖-碳点膜的厚度为30-50nm。

6.根据权利要求5所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述壳聚糖溶液是将分子量30万以上、脱乙酰度90%以上的壳聚糖溶解于盐酸溶液中,至其完全溶解,加入京尼平溶液,搅拌至壳聚糖溶液完全交联。

7.根据权利要求6所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述壳聚糖与京尼平的质量比为100:3-15;所述盐酸溶液的浓度为0.2-2mol/L。

8.根据权利要求5所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述碳点是将分子量5-40万、脱乙酰度90-95%的壳聚糖、二氨基乙烷和去离子水加入聚四氟乙烯反应釜中,在180-200℃下反应5-20h,冷却至室温,用去离子水透析15-24h,冷冻干燥至碳点粉末,置于4℃保存备用。

9.根据权利要求8所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片,其特征在于,所述壳聚糖、二氨基乙烷和去离子水的质量比为1-1.5:1:40-60。

10.一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器,其特征在于,包括依次设置的玻璃棱镜以及权利要求1-9中任一项所述的SPR传感器芯片,所述玻璃棱镜设置于所述铬膜表面。

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