[发明专利]存储器的测试方法及相关设备在审
| 申请号： | 202010167406.4 | 申请日： | 2020-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113393893A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 章恒嘉;丁丽;史传奇 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 相关 设备 | ||
1.一种存储器的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
测试第一存储器，获取所述第一存储器的缺陷信息；
根据所述第一存储器的缺陷信息，获得所述第一存储器的修复信息；
将所述第一存储器的修复信息存储于第二存储器中。
2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，在测试所述第一存储器之前，所述方法还包括：
测试所述第二存储器，获取所述第二存储器的缺陷信息；
存储所述第二存储器的缺陷信息；
根据所述第二存储器的缺陷信息，获得所述第二存储器的修复信息；
利用所述第二存储器的修复信息修复所述第二存储器。
3.根据权利要求1或2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第一存储器和所述第二存储器属于同一存储设备。
4.根据权利要求3所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述存储设备还包括控制芯片，所述第一存储器和所述第二存储器依次垂直堆叠于所述控制芯片之上或者之下。
5.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第一存储器和所述第二存储器属于不同存储设备，所述不同存储设备的类型相同或者不同。
6.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
测试第三存储器，获取所述第三存储器的缺陷信息；
根据所述第三存储器的缺陷信息，获得所述第三存储器的修复信息；
将所述第三存储器的修复信息存储于所述第二存储器中。
7.根据权利要求6所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
从所述第二存储器中读取所述第一存储器和所述第三存储器的修复信息；
根据所述第一存储器的修复信息修复所述第一存储器，并根据所述第三存储器的修复信息修复所述第三存储器。
8.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
从所述第二存储器中读取所述第一存储器的修复信息；
根据所述第一存储器的修复信息修复所述第一存储器。
9.根据权利要求8所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
测试第四存储器，获取所述第四存储器的缺陷信息；
根据所述第四存储器的缺陷信息，获得所述第四存储器的修复信息；
将所述第四存储器的修复信息存储于所述第一存储器中。
10.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述第一存储器的测试数据；
将所述第一存储器的测试数据存储于所述第二存储器中。
11.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述方法由自动测试设备执行。
12.一种存储器的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
缺陷信息获取单元，用于测试第一存储器，获取所述第一存储器的缺陷信息；
修复信息获得单元，用于根据所述第一存储器的缺陷信息，获得所述第一存储器的修复信息；
修复信息存储单元，用于将所述第一存储器的修复信息存储于第二存储器中。
13.一种电子设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-11中任一项所述的方法。
14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-11中任一所述的方法。
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