[发明专利]AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；

提取所述待测图像中的目标区域图像；

对所述目标区域图像进行预处理，得到残差图像；

通过高斯差分算法计算所述残差图像的局部极大值点，并将所述局部极大值点作为种子点；

根据所述种子点与预设阈值得到所述目标AMOLED显示屏的缺陷位置；

其中，所述根据所述种子点与预设阈值得到所述目标AMOLED显示屏的缺陷位置的步骤包括：

计算与所述种子点相邻的邻域像素点与所述种子点之间的像素灰度差值；

当所述像素灰度差值小于等于所述预设阈值时，将与所述像素灰度差值对应的所述邻域像素点归为第一类属性，并将与所述像素灰度差值对应的所述邻域像素点作为新的种子点，重新计算所述像素灰度差值、判断与所述预设阈值之间的关系、再次获得所述新的种子点继续生长，直至无法生长；当所述像素灰度差值大于所述预设阈值时，将与所述像素灰度差值对应的所述邻域像素点归为第二类属性；

其中，所述根据所述种子点与预设阈值得到所述目标AMOLED显示屏的缺陷位置包括：

将完成所述第一类属性和所述第二类属性归类的所述残差图像作为二值图像；

对所述二值图像进行形态学操作后，获得所述目标AMOLED显示屏的缺陷位置。

2.根据权利要求1所述的AMOLED显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述提取所述待测图像中的目标区域图像的步骤包括：

根据所述待测图像获取所述AMOLED显示屏的显示区域的显示轮廓；

获取所述显示轮廓的各个顶点；

根据所述显示轮廓的各个顶点和各个预设顶点之间的线性关系将所述待测图像的显示区域进行映射变换，以获得所述目标区域图像。

3.根据权利要求1所述的AMOLED显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标区域图像进行预处理，得到残差图像的步骤包括：

对所述目标区域图像进行滤波去噪处理，得到去噪图像；

对所述去噪图像进行背景重建，得到背景图像；

对所述去噪图像和所述背景图像进行做差处理，得到残差图像。

4.根据权利要求3所述的AMOLED显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标区域图像进行滤波去噪处理，得到去噪图像的步骤包括：

对所述目标区域图像依次进行双边滤波处理、均值滤波器滤波处理，以获得所述去噪图像。

5.根据权利要求3所述的AMOLED显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述去噪图像进行背景重建，得到背景图像的步骤包括：

将所述去噪图像平均划分为多个区域；

获取每个所述区域的区域中值，组成区域中值图像；

对所述区域中值图像进行双线性插值处理，得到所述背景图像。