[发明专利]AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及显示屏技术领域，提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该AMOLED显示屏的缺陷检测方法包括：获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；提取待测图像中的目标区域图像；对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；根据种子点与预设阈值得到目标AMOLED显示屏的缺陷位置。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。

技术领域

本发明涉及显示屏技术领域，尤其涉及一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

近些年来，随着社会科学经济水平的不断提升，人们对电子产品的需求量不断提升，而显示屏作为众多电子产品中不可分割的一部分，尤其是新一代的AMOLED(有源矩阵有机发光二极体，Active-matrix organic light-emitting diode)面板技术受到了广泛的关注。在AMOLED显示屏生产过程中，需要对AMOLED显示屏进行质检，以排除AMOLED显示屏存在针孔、划痕、颗粒、mura等缺陷，实现对外发AMOLED显示屏的质量管控。

目前，一般是通过AOI(自动光学检测，Automated Optical Inspection)检测设备对AMOLED进行质检以代替人力，而在AOI检测设备通常是使用水平集和均值漂移的算法检测获得缺陷位置。

虽然目前的AMOLED显示屏的缺陷检测方法能够实现对AMOLED显示屏的缺陷位置进行检测标记，但是由于在检测过程中需要不断更迭计算，需要消耗大量时间。综上所述，现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。

发明内容

本发明提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，以解决现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。

本发明提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法，包括：

获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；

提取待测图像中的目标区域图像；

对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；

通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；

根据种子点与预设阈值得到目标AMOLED显示屏的缺陷位置。

本发明提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测装置，包括：

待测图像获取模块，用于获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；

目标区域图像获取模块，用于提取待测图像中的目标区域图像；

残差图像获取模块，用于对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；

种子点获取模块，用于通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；

缺陷位置获取模块，用于根据种子点形成的生长区域中的各个像素点和种子点的像素灰度值计算分割获得目标AMOLED显示屏的缺陷位置。

本发明提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现本发明提供的一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法的步骤。

本发明提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本发明提供的一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法的步骤。