[发明专利]降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的方法在审
申请号: | 202010181829.1 | 申请日: | 2020-03-16 |
公开(公告)号: | CN111312860A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 廖光明 | 申请(专利权)人: | 江苏日托光伏科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人: | 贺翔 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 降低 topcon 太阳能电池 边缘 复合 方法 | ||
1.降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的方法,其特征在于,所述方法原有N-topcon工艺基础上,在N-Topcon电池正面经过B元素掺杂处理后,增加正面激光边缘刻蚀处理;在背面经过P元素掺杂处理后,增加背面激光边缘刻蚀处理,降低了正、背面边缘30~100um区域内载流子的横向传输能力,改善边缘复合电流,降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的几率,提升光电转换效率。
2.根据权利要求1所述的降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的方法,其特征在于,所述方法具体为:
步骤一,在N-topcon电池正面B掺杂后,利用激光脉冲对正面边缘扩散区域刻蚀处理;
步骤二,在背面和侧面BSG去除工艺中,对激光刻蚀区域进行抛光处理,改善损伤层以及表面悬挂键;
步骤三,在电池片背面生长SiO2/Poly-Si叠层钝化膜,以及对Poly-Si进行P元素掺杂和退火晶化处理后,二次利用脉冲激光对背面的poly-Si边缘刻蚀处理;
步骤四,通过RCA清洗工艺对背面刻蚀区域进行抛光处理。
3.根据权利要求2所述的降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的方法,其特征在于,所述步骤一中,刻蚀区域宽度在30~100um。
4.根据权利要求2所述的降低N-Topcon晶硅太阳能电池边缘复合的方法,其特征在于,所述步骤三中,刻蚀区域的宽度在30~100um。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的