[发明专利]一种基于测井资料的地层真参数求取方法

权利要求书

1.一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，对地层进行工程测井，得到未校准之前的原始测井曲线；

S2，根据原始测井曲线，确定需要求取地层参数的目标深度段，并获取目标深度段的地层信息；

S3，在目标深度段内进行取心，得到目标深度段原始岩心；

S4，在实验室中分析目标深度段岩心的基本信息；

S5，在实验室条件与模拟的真实地层条件下，对需要求取的地层参数开展模拟实验，得到地层参数与影响因素之间的响应规律；

S6，建立实验室条件下地层参数与影响因素之间的转化模型；

S7，建立实验室条件下的地层参数与真实地层条件的地层参数之间的校准模型；

S8，利用步骤S6中得到的转化模型和步骤S7中得到的校准模型进行工程测井曲线进行补偿或校正，求得地层真参数。

2.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S2中，目标深度段的地层信息包括温度、压力、流体。

3.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S4中，所述基本信息为目标深度段岩心的骨架组成、流体性质。

4.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S5中，所述影响因素包括岩石骨架、孔隙流体、孔隙、温度、压力。

5.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S6中，所述转化模型为：

Y＝f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。

6.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S7中，所述校准模型为：

Y′＝f(Y)+f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

Y′为井下真实情况的地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。