[发明专利]一种基于测井资料的地层真参数求取方法在审

专利信息
申请号: 202010183700.4 申请日: 2020-03-16
公开(公告)号: CN111350490A 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 刘鹏;李新;朱涵斌;罗燕颖;贺国芬;李兵;陈渝;韩波;张永浩;李楠;吴迪;郭用梅;王玮;吴进忠 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00;E21B49/00;G06F30/20
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 王艾华
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 测井 资料 地层 参数 求取 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于测井资料的地层真参数求取方法,以实际岩心为基础,在实验室模拟地层条件,得到各种地层参数与其测量影响因素之间的响应规律,建立转化模型,再结合实际测井资料,建立校准模型,对工程测井曲线进行校准,最终求取地层真参数。本发明地层真参数求取方法与现有技术相比,在工程测井受影响井段进行实验室模拟研究,建立模型消除各种异常因素导致的测量结果失真,对测井曲线进行校准,能够获取地层真参数;避免了地层含有特殊矿物时,工程测井结果异常、泥浆侵入带工程测井结果失真而导致的测井曲线无法使用等一系列问题,使工程测井在石油勘探开发过程中发挥更大作用。

技术领域

本发明属于石油测井技术领域,具体涉及一种基于测井资料的地层真参数求取方法。

背景技术

目前,获取地层参数的方法主要有两种,一是利用钻井取心得到4英寸(102毫米左右)的全直径圆柱形柱塞岩心,然后再加工为1英寸(25.4毫米)的圆柱形柱塞岩心,在实验室内利用精密的实验仪器测量其地层参数,此方法可消除外部因素对岩心的影响,得到岩心的真参数,但其存在明显缺点:(1)钻井取心成本较高,不可能全井段连续取心,(2)实验室测量的结果仅代表了1英寸的岩心柱塞岩心,不能完全代表真实地层情况;二是利用工程测井,将测井仪器放入井下直接测量地层参数,但由于地层信息未知,而测量又容易受泥浆侵入、井眼环境改变、探测深度不足、地层含有特殊矿物或地层本身性质改变等多种因素影响,测量结果代表了多种因素的综合反映,不能得到地层的真参数。

发明内容

本发明提供了一种基于测井资料的地层真参数求取方法,以解决现有技术中,实验室测量的地层参数局限性较大、工程测井得到的地层参数易受多种因素干扰,而无法准确获得地层真参数的难题。

为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种基于测井资料的地层真参数求取方法,包括以下步骤:

S1,对地层进行工程测井,得到未校准之前的原始测井曲线;

S2,根据原始测井曲线,确定需要求取地层参数的目标深度段,并获取目标深度段的地层信息;

S3,在目标深度段内进行取心,得到目标深度段原始岩心;

S4,在实验室中分析目标深度段岩心的基本信息;

S5,在实验室条件与模拟的真实地层条件下,对需要求取的地层参数开展模拟实验,得到地层参数与影响因素之间的响应规律;

S6,建立实验室条件下地层参数与影响因素之间的转化模型;

S7,建立实验室条件下的地层参数与真实地层条件的地层参数之间的校准模型;

S8,利用步骤S6中得到的转化模型和步骤S7中得到的校准模型进行工程测井曲线进行补偿或校正,求得地层真参数。

进一步的,S2中,目标深度段的地层信息包括温度、压力、流体。

进一步的,S4中,所述基本信息为目标深度段岩心的骨架组成、流体性质。

进一步的,S5中,所述影响因素包括岩石骨架、孔隙流体、孔隙、温度、压力。

进一步的,S6中,所述转化模型为:

Y=f(X1,X2,X3,X4…Xn)

式中:

Y为实验室条件下地层参数;

X1,X2,X3,X4…Xn为影响地层参数测量的各种影响因素。

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