[发明专利]电路测试装置

权利要求书

1.一种电路测试装置，其特征在于，所述电路测试装置包括多个测试模组，其中，每个所述测试模组包括多个测试电路，每个所述测试电路电性连接于一个测试连接端，所述测试连接端用于电性连接待测电路板中连接器的一个引脚端口，每个所述测试电路包括显示器件；

当所述电路测试装置对所述待测电路板进行测试时，每个测试模组中多个测试电路对应的多个测试连接端同时分别连接所述待测电路板的全部所述引脚端口，以对全部所述引脚端口同时进行测试，

若与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数满足预设条件时，所述测试电路中的所述显示器件处于第一显示状态；

若与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数不满足预设条件内时，所述测试电路中的所述显示器件处于第二显示状态。

2.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，

所述显示器件通过发射光线来处于所述第一显示状态，所述显示器件通过不发射光线来处于所述第二显示状态。

3.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，

所述测试电路还包括第一电源端、第一测试电阻以及测试开关，所述测试开关与所述显示器件串联于所述第一电源端与接地端之间，且所述测试开关电性连接所述测试连接端，所述测试电路的接地端还与所述待测电路板中的接地端电性连接并为相同的电位；

当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于预设范围内时，所述测试开关在所述引脚端口提供的电压控制下导通，所述测试连接端与所述接地端电性导通，所述显示器件在所述第一电源端提供的驱动电压下出射光线发光，以呈现所述第一显示状态；

当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数超过预设范围内时，所述测试开关在所述引脚端口提供的电压控制下截止，所述测试连接端与所述接地端电性断开，所述显示器件停止出射光线发光呈现所述第二显示状态。

4.根据权利要求3所述的电路测试装置，其特征在于，

所述测试开关包括第一导电端、第二导电端以及第一控制端，所述第一导电端电性连接所述第一电源端，所述第二导电端电性连接所述显示器件，所述第一控制端电性连接所述测试连接端，所述测试连接端还电性连接于所述第一导电端；

所述第一测试电阻电性连接于所述第一电源端与所述第一控制端之间；

当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于预设范围内输出的电压控制所述测试开关电性导通时，第一导电端所述第二导电端电性导通，所述显示器件在所述驱动电压下发光；

当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数超过预设范围内输出的电压控制所述测试开关电性截止时，且第一导电端所述第二导电端电性断开，所述显示器件停止发光。

5.根据权利要求4所述的电路测试装置，其特征在于，

所述测试开关为P型晶体管，所述P型晶体管的栅极电性连接所述第一控制端，所述P型晶体管的源极电性连接所述第一导电端，所述P型晶体管的漏极电性连接所述第二导电端，当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于预设范围内时，所述测试连接端提供的电压控制所述P型晶体管的源极与漏极电压大于阈值电压，所述P型晶体管电性导通；当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数超过预设范围时，所述测试连接端提供的电压控制所述P型晶体管的源极与漏极电压小于阈值电压，所述P型晶体管电性截止；

所述显示器件为发光二极管，所述发光二极管的阳极电性连接所述P型晶体管的漏极，所述发光二极管的阴极通过第二电阻电性连接所述接地端，当所述P型晶体管电性导通时所述发光二极管在所述驱动电压驱动下导通发光，当所述P型晶体管电性截止时所述发光二极管截止并停止发光。

6.根据权利要求5所述的电路测试装置，其特征在于，所述电路测试装置包括一语音播放器，所述语音播放器电性连接于每一个所述测试电路的测试开关与所述接地端之间，并且依据所述测试开关电性导通或者截止，以对应所述第一显示状态提供第一语音播放信息或者对应所述第二显示状态提供第二语音播放信息。