[发明专利]电路测试装置有效

专利信息
申请号: 202010193399.5 申请日: 2020-03-18
公开(公告)号: CN113495205B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 周兴远;姚海波;辜俊峰;姚龙飞;胡义伟 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;李稷芳
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电路 测试 装置
【说明书】:

本申请提供一种检修方便以及效率较高的电路测试装置。电路测试装置包括多个测试模组,其中,每个测试模组包括多个测试电路,每个测试电路电性连接于一个测试连接端,测试连接端用于电性连接待测电路板中连接器的一个引脚端口。当与测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于满足预设条件时,测试电路中的显示器件处于第一显示状态。当与测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数不满足预设条件内时,测试电路中的显示器件处于第二显示状态。

技术领域

本申请涉及电子装置测试领域,尤其涉及一种测试电路连接器中引脚端口电性参数的电路测试装置。

背景技术

随着用于针对电子产品小型化、低功耗、高性能参数的需求,电子产品电路往组件化、高密度、小尺寸、堆叠式、高集成度不断的发展,电子产品内部不同电路功能模组之间采用连接器进行信号传输的频率越来越频高,连接器承担连接的功能电路数越来越多。其中很多连接器由于体积小、相连电路引脚较多、相邻触点间距小,而被连接的功能电路并未预留足够的测试空间与测试点时,导致了针对功能的电路检测或者量测极不方便,并且故障检修效率极低。

发明内容

为解决前述技术问题,本申请实施例提供一种检测方便以及检修效率较高的电路测试装置。

在本申请一种实现方式中,提供一种电路测试装置,所述电路测试装置包括多个测试模组,其中,每个所述测试模组包括多个测试电路,每个测试电路电性连接于一个测试连接端,所述测试连接端用于电性连接待测电路板中连接器的一个引脚端口,每个所述测试电路包括显示器件。当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于满足预设条件时,所述测试电路中的显示器件处于第一显示状态。当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数不满足预设条件内时,所述测试电路中的所述显示器件处于第二显示状态。

第一显示状态与第二显示状态为在视觉上两种不同的状态来表征引脚接口是否满足预设条件,例如呈发光状态与不发光的状态,或者呈现两种不同颜色的发光状态,方便用户从视觉上直观、快速获知引脚端口是否处于正常状态,有效提高了测试效率。

本申请一实施例中,所述显示器件通过发射光线来处于所述第一显示状态,所述显示器件通过不发射光线来处于所述第二显示状态。通过是否出射光线从视觉上表征引脚接口是否满足预设条件,在视觉上更加直观、快速获知引脚端口是否满足预设条件。

本申请一实施例中,所述测试电路包括第一电源端、第一测试电阻以及测试开关,所述测试开关与所述显示器件串联于所述第一电源端与接地端之间,且所述测试开关电性连接所述测试连接端,所述测试电路的接地端还与所述待测试电路板中的接地端电性连接并为相同的电位。当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数位于预设范围内时,所述测试开关在所述引脚端口提供的电压控制下导通,所述测试连接端与所述接地端电性导通,所述显示器件在所述第一电源端提供的驱动电压下出射光线发光,以呈现所述第一显示状态。当与所述测试连接端电性连接的引脚端口的电性参数超过预设范围内时,所述测试开关在所述引脚端口提供的电压控制下截止,所述测试连接端与所述接地端电性断开,所述显示器件停止出射光线发光呈现所述第二显示状态。

当引脚端口电性参数位于预设范围时,引脚端口输出的电压来控制测试开关导通,并且正在测试开关导通时使得引脚端口与接地端之间形成导电通路,驱动电压通过第一电压端加载至显示器件,驱动显示器件在驱动电压的驱动下发光,从而从视觉上直观的表征对应。反之,引脚端口的电性参数超过预设范围时,测试开关截止而无法形成导电通路,显示器件停止发光。通过测试开关来选择性的提供驱动电压至显示器件,使得发光驱动器件发光或者停止出射光线发光更加准确,防止出现误触发,并且测试开关能够灵活地调整其参数来满足不同电性参数的预设范围。

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