[发明专利]口扫机系统及口扫机的操作方法在审

专利信息
申请号: 202010203554.7 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN113491532A 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 吴壮为;詹宏智 申请(专利权)人: 苏州佳世达光电有限公司;佳世达科技股份有限公司
主分类号: A61B6/14 分类号: A61B6/14;A61C19/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 口扫机 系统 操作方法
【权利要求书】:

1.一种口扫机的操作方法,该口扫机包含取像装置及处理器,其特征在于,该口扫机的操作方法包含步骤:

藉由该取像装置沿第一牙弓依序撷取M个影像,M为大于1的正整数;

藉由该处理器依据该M个影像建立该第一牙弓的第一牙弓模型;

藉由该取像装置沿该第一牙弓的第一锚点位置至该第一牙弓的第二锚点位置的直线路径依序撷取N个影像,该第一锚点位置位于该第一牙弓的中心线的一侧,该第二锚点位置位于该中心线的另一侧,N为大于1的正整数;

藉由该处理器依据该N个影像产生该第一锚点位置的第一坐标及该第二锚点位置的第二坐标;及

藉由该处理器依据该第一坐标及该第二坐标校正该第一牙弓模型。

2.如权利要求1所述的口扫机的操作方法,其特征在于,还包含下列步骤:

藉由该取像装置沿第二牙弓依序撷取P个影像,P为大于1的正整数;

藉由该处理器依据该P个影像建立该第二牙弓的第二牙弓模型;

藉由该取像装置依序撷取包含该第一牙弓的第一部份及该第二牙弓的第二部份的Q个影像,Q为正整数;

藉由该处理器依据该Q个影像建立该第一牙弓及该第二牙弓的对齐模型;及

藉由该处理器依据该校正后的第一牙弓模型及该对齐模型校正该第二牙弓模型。

3.如权利要求2所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该取像装置依序撷取包含该第一牙弓的该第一部份及该第二牙弓的该第二部份的该Q个影像包含:

藉由该取像装置沿该第一牙弓的该第一部份及该第二牙弓的该第二部份的侧面对齐路径依序撷取该Q个影像。

4.如权利要求3所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该侧面对齐路径为第一牙弓的该第一部份及该第二牙弓的该第二部份的侧面咬合路径。

5.如权利要求2所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该对齐模型包含左侧对齐模型、右侧对齐模型及前侧对齐模型。

6.如权利要求2所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该第一牙弓是上牙弓,该第二牙弓是下牙弓。

7.如权利要求1所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该取像装置沿该第一牙弓的该第一锚点位置至该第一牙弓的该第二锚点位置的该直线路径依序撷取N个影像包含:

藉由该取像装置沿该第一锚点位置的第一对齐面至该第二锚点位置的第二对齐面的该直线路径依序撷取N个影像。

8.如权利要求1所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该处理器依据该第一坐标及该第二坐标校正该第一牙弓模型包含:

藉由该处理器依据该中心线及该第一坐标或该第二坐标调整该第一牙弓模型中牙齿的位置。

9.如权利要求1所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该第一锚点位置及该第二锚点位置接近该第一牙弓的二臼齿。

10.如权利要求9所述的口扫机的操作方法,其特征在于,该二臼齿为相对臼齿。

11.一种口扫机系统,其特征在于,该口扫机系统包含:

取像装置,用于扫描待测物;

处理器,与该取像装置耦接;

其中,当该第一待测物为第一牙弓时,该取像装置沿该第一牙弓依序撷取M个影像,M为大于1的正整数;该处理器依据该M个影像建立该第一牙弓的第一牙弓模型;该取像装置沿该第一牙弓的第一锚点位置至该第一牙弓的第二锚点位置的直线路径依序撷取N个影像,该第一锚点位置位于该第一牙弓的中心线的一侧,该第二锚点位置位于该中心线的另一侧,N为大于1的正整数;该处理器依据该N个影像产生该第一锚点位置的第一坐标及该第二锚点位置的第二坐标;该处理器依据该第一坐标及该第二坐标校正该第一牙弓模型。

12.如权利要求11所述的口扫机系统,其特征在于,当该待测物为第二牙弓时,该取像装置沿该第二牙弓依序撷取P个影像,P为大于1的正整数;该处理器依据该P个影像建立该第二牙弓的第二牙弓模型;该取像装置依序撷取包含该第一牙弓的第一部份及该第二牙弓的第二部份的Q个影像,Q为正整数;该处理器依据该Q个影像建立该第一牙弓及该第二牙弓的对齐模型;该处理器依据该校正后的第一牙弓模型及该对齐模型校正该第二牙弓模型。

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