[发明专利]电介质膜及电子部件有效
| 申请号： | 202010217663.4 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN111747729B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 城川真生子;政冈雷太郎;藤井祥平;大庭悠辅 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | C04B35/01 | 分类号： | C04B35/01;C04B35/622;H01G4/12 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;徐飞跃 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电介质 电子 部件 | ||
【权利要求书】：
1.一种电介质膜，作为其主成分，含有以通式xAO－yBO－zC2O5表示的复合氧化物，所述电介质膜的特征在于：
所述A为选自由钡、钙和锶构成的组中的至少一者，
所述B为选自由镁和锌构成的组中的至少一者，
所述C为选自由铌和钽构成的组中的至少一者，
所述x、y和z满足以下关系：x+y+z＝1.000，0.375≤x≤0.563，0.250≤y≤0.500，x/3≤z≤(x/3)+1/9，
在所述电介质膜的X射线衍射图中，所述复合氧化物的(211)面的衍射峰强度或所述复合氧化物的(222)面的衍射峰强度比所述复合氧化物的(110)面的衍射峰强度大。
2.根据权利要求1所述的电介质膜，其特征在于：
所述复合氧化物的(211)面的衍射峰强度比所述复合氧化物的(110)面的衍射峰强度大，
令(211)面的衍射峰强度为I(211)，(222)面的衍射峰强度为I(222)时，所述I(211)和所述I(222)满足1.2≤I(211)/I(222)的关系。
3.根据权利要求2所述的电介质膜，其特征在于：
所述I(211)和所述I(222)满足15≤I(211)/I(222)的关系。
4.一种电子部件，其特征在于，具有权利要求1～3中任一项所述的电介质膜。
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