[发明专利]一种硅铝硅键合片的台面二极管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010220318.6 申请日: 2020-03-25
公开(公告)号: CN111261726A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 杨朔 申请(专利权)人: 上海安微电子有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/18;H01L21/329
代理公司: 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 代理人: 黄珍玲
地址: 200030 上海市徐汇*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅铝硅键合片 台面 二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种肖特基势垒二极管,其结构包括:以硅-铝-硅型半导体单晶片为基片,在其上形成势垒层,再形成金属阳极,边缘造型为台面结构,以聚酰亚胺进行台面保护。

2.根据权利要求1所述的肖特基势垒二极管,其特征在于,采用的基片为三层结构,中间为金属铝,上下为单晶硅。芯片边缘造型为台面型,台面的深度深过芯片层和铝层。

3.一种肖特基势垒二极管的制备方法,其步骤包括:先通过对三层硅-铝-硅层进行合金,,对芯片层进行减薄抛光。然后进行金属势垒及电极形成,光刻腐蚀台面,接着进行聚酰亚胺涂敷和光刻,固化及背面金属形成。

4.根据权利要求3所述的肖特基势垒二极管的制备方法,其特征在于,铝硅合金温度高于铝硅共晶温度577℃,后续的芯片制作中所用的温度都低于577℃。

5.根据权利要求3所述的肖特基势垒二极管,其特征在于,台面腐蚀采用多步腐蚀,腐蚀正面金属-腐蚀硅-腐蚀铝-腐蚀硅。

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