[发明专利]用于存储器装置的多维伪随机二进制序列分析在审

专利信息
申请号: 202010227501.9 申请日: 2020-03-27
公开(公告)号: CN112148212A 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: R.盖尔布雷思;J.古德;H.伊普;R.库马;N.拉文德兰 申请(专利权)人: 西部数据技术公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 存储器 装置 多维 随机 二进制 序列 分析
【权利要求书】:

1.一种用于识别存储器系统中的单元耦合的方法,所述方法包括:

生成二维伪随机二进制序列阵列;

对所述存储器系统的存储器块的多个单元执行擦除操作;

使用所述二维伪随机二进制序列阵列对所述多个单元执行写入操作;

对所述多个单元执行读取操作以识别所述多个单元中的每个单元的电压值;以及

使用所述多个单元中的所述每个单元的所述电压值来识别所述多个单元中的相应单元之间的单元耦合。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述二维伪随机二进制序列阵列是包含长度为(2N-1)的边的正方形阵列,其中N是多项式次数。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述二维伪随机二进制序列阵列的每一列和每一行仅包含所述二维伪随机二进制序列阵列的所有可能值一次。

4.根据权利要求1所述的方法,其中使用所述多个单元中的所述每个单元的所述电压值来识别所述多个单元中的相应单元之间的单元耦合包含:识别每个所识别的单元耦合的位置。

5.根据权利要求1所述的方法,其中使用所述多个单元中的所述每个单元的所述电压值来识别所述多个单元中的相应单元之间的单元耦合包含:识别每个所识别的单元耦合的幅度。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个单元是多级单元。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述所识别的单元耦合中的一些包含线性单元耦合。

8.根据权利要求1所述的方法,其中所述所识别的单元耦合中的一些包含非线性单元耦合。

9.一种控制器,其包括:

总线接口,其与存储器系统的一个或多个存储器块通信;以及

处理器,其配置成:

接收二维伪随机二进制序列阵列;

对所述一个或多个存储器块中的存储器块的多个单元执行擦除操作;

使用所述二维伪随机二进制序列阵列对所述多个单元执行写入操作;

对所述多个单元执行读取操作以识别所述多个单元中的每个单元的电压值;以及

使用所述多个单元中的所述每个单元的所述电压值来识别所述多个单元中的相应单元之间的单元耦合。

10.根据权利要求9所述的控制器,其中所述二维伪随机二进制序列阵列是包含长度为(2N-1)的边的正方形阵列,其中N是多项式次数。

11.根据权利要求9所述的控制器,其中所述二维伪随机二进制序列阵列的每一列和每一行仅包含所述二维伪随机二进制序列阵列的所有可能值一次。

12.根据权利要求9所述的控制器,其中所述处理器进一步配置成识别每个所识别的单元耦合的位置。

13.根据权利要求9所述的控制器,其中所述处理器进一步配置成识别每个所识别的单元耦合的幅度。

14.根据权利要求9所述的控制器,其中所述多个单元是多级单元。

15.根据权利要求9所述的控制器,其中所述所识别的单元耦合中的一些包含线性单元耦合。

16.根据权利要求9所述的控制器,其中所述所识别的单元耦合中的一些包含非线性单元耦合。

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