[发明专利]存储器测试方法

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；

当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；

根据所述偏差值捕获输出信号的时间值；

在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。

2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器参数至少包括电压及温度。

3.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，形成所述数据库的方法包括如下步骤：

在一个存储器参数下，对存储器施加读命令；

以预设时间值为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的多个输出信号；

将有效的所述输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值；

更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形成所述数据库。

4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述预设时间值为读取延迟消逝的时间值。

5.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，在所述预设时间值捕获的所述输出信号为无效信号。

6.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其特征在于，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。

7.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其特征在于，当连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况下，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。

8.根据权利要求7所述的存储器测试方法，其特征在于，将首次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为初始值，将最后一次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为结束值，在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取一个数值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。

9.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，将捕获的输出信号与测试信号进行比较，以判断所述输出信号是否有效。

10.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述输出信号的变化趋势为无效信号、有效信号、无效信号。

11.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述根据所述偏差值捕获输出信号的时间值的步骤进一步包括：将所述偏差值与读取延迟消逝的时间值之和作为捕获所述输出信号的时间值。