[发明专利]存储器测试方法

说明书

本发明提供一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。本发明优点在于，将数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系形成数据库，在进行测试时，可直接依据数据库的记录获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试，从而使得没有自动跟踪功能的测试设备也能够准确地获得测试数据。

技术领域

本发明涉及存储器领域，尤其涉及一种存储器测试方法。

背景技术

在进行存储器测试时，存储器可依据外部的时脉信号产生有效的数据窗(DataWindow)，并由存储器测试设备获取数据以进行测试。

一些测试设备可自动跟踪数据选通信号（DQS）来获取数据以进行测试，而有些测试设备没有自动跟踪的功能。随着温度和电压等参数的变化，存储器的数据窗会产生位移，而没有自动跟踪功能的测试设备无法正确地捕获到移动后的数据窗所具有的有效数据，进而无法准确地获取数据，造成存储器测试不准确。

因此，如何提高没有自动跟踪功能的测试设备的准确性，成为目前亟需解决的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种存储器测试方法，其能够提高没有自动跟踪功能的测试设备的准确性。

为了解决上述问题，本发明提供了一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。

进一步，所述存储器参数至少包括电压及温度。

进一步，形成所述数据库的方法包括如下步骤：在一个存储器参数下，对存储器施加读命令；以预设时间值为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的输出信号；将有效的所述输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值；更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形成所述数据库。

进一步，所述预设时间值为读取延迟消逝的时间值。

进一步，在所述预设时间值捕获的所述输出信号为无效信号。

进一步，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。

进一步，当连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况下，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。

进一步，将首次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为初始值，将最后一次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为结束值，在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取一个数值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。

进一步，将捕获的输出信号与测试数据进行比较，以判断所述输出信号是否有效。

进一步，所述输出信号的变化趋势为无效信号、有效信号、无效信号。

进一步，所述根据所述偏差值捕获输出信号的时间值的步骤进一步包括：将所述偏差值与读取延迟消逝的时间值之和作为捕获所述输出信号的时间值。