[发明专利]一种光学组件性能测试平台

权利要求书

1.一种光学组件性能测试平台，其特征在于：包括上壳体、底板以及下壳体以及用于固定底板的侧顶机构

上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体；

下壳体内设有至少三条横梁，每根横梁上均设有至少三个柱状凸起，所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体；底板上放置多个光学测试设备；

上壳体的前端面设有光通道接口，所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接，上壳体的后端面为密封面；上壳体的后端侧面设有光学输出窗口；

侧顶机构设置在下壳体上，且前、后、左、右方向至少设置一个；侧顶机构包括固定座、外壳、芯体以及滚珠；固定座固定安装在下壳体上，外壳与固定座螺纹连接，外壳的内部设有芯体，滚珠嵌装于外壳上，其一部分与芯体接触，另一部分外露出外壳；

所述下壳体的内边缘上设有多个呈楔形的导向块，分别布局在下壳体的前、后、左、右为上壳体下落时提供导向作用。

2.根据权利要求1所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述滚珠外露出外壳的部分前端为平面。

3.根据权利要求1或2所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述下壳体底部呈圆弧状，且底部内表面设置有多个圆弧筋板；所述上壳体顶部呈圆弧状。

4.根据权利要求3所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述上壳体的外表面从前之后设置有多条加强筋板，上壳体内表面为光滑表面。

5.根据权利要求4所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述上壳体的侧面设有辅助抽真空法兰接口。

6.根据权利要求5所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述光通道接口与外部环境试验模拟装置的对接口之间、上壳体与下壳体之间、辅助抽真空法兰接口与外部抽真空设备的对接口之间均设有密封圈。

7.根据权利要求6所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：还包括与所述下壳体固定连接的支撑框架。

8.根据权利要求7所述的光学组件性能测试平台，其特征在于：所述支撑框架下方设置有自锁滚轮，所述支撑框架下方设有多个调平机构；所述上壳体和下壳体上均设有吊耳。