[发明专利]一种光学组件性能测试平台

说明书

本发明公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体；上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体；下壳体内设有至少三条横梁，每根横梁上均设有至少三个柱状凸起，所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体；底板上放置多个光学测试设备；上壳体的前端面设有光通道接口，所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接，上壳体的后端面为密封面；上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单，易于密封，对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。

技术领域

本发明属于光学检测领域，尤其涉及一种光学组件性能测试平台。

技术背景

我国航天事业蓬勃发展，其中激光通信技术、光学成像技术等光学领域学科技术也被广泛应用于航天器上。在航天器发射前，所有光学组件均需通过太空环境模拟的严苛试验要求，在环境模拟试验同时，还需检测光学组件光学性能参数值，以保证其在所要求环境中参数误差在允许范围。这一过程需要用到光学测试设备，现有的光学测试设备分为在太空环境模拟设备舱内放置和舱外放置两种形式。

对于太空环境模拟设备舱内放置光学测试设备的方式，除非自身不受任何压力变化干扰、外形尺寸较小或光学原件单一，不存在光学测试设备之间因压力变化造成相互位置变化而影响光学性能，否则多个光学测试设备均需通过穿舱结构穿出环境试验模拟装置的舱外并固定在地面铺设的气浮平台上进行测试，该测试平台结构复杂，密封难度大、且造价高昂，并且必须配备地面设施，而对于一些小型设备或没有地面条件的环境适用性差。

对于太空环境模拟设备舱外放置光学测试设备的方式，需要通过太空环境模拟试验设备自带的光学窗口进行测量，这样就在光学系统中引入光学窗口这一影响因素。光学窗口受本身波长、透过率、平面度等因素限制，又受舱体压力、舱内温度变化等多重外因影响造成参数变化，且往往由于光学窗口在空间环境试验模拟设备舱内的被测产品与舱外光学测试设备组成的测试光路上所处的位置，导致整个光学测试系统变量不唯一，使测试结果精度差。

发明内容

为了解决背景技术提出现有舱内放置的光学测试设备对光学组件进行测试的方式存在测试平台结构复杂，密封难度大、造价高昂、环境适用性差的问题，以及舱外放置的光学测试设备对光学组件进行测试的方式，由于引入光学窗口这一影响因素，导致测试结果准确性差的问题，本发明提供了一种光学组件性能测试平台。

本发明的具体技术方案是：

本发明提供了一种光学组件性能测试平台，包括上壳体、底板以及下壳体；

上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体；

下壳体内设有至少三条横梁，每根横梁上均设有至少三个柱状凸起，所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体；底板上放置多个光学测试设备；

上壳体的前端面设有光通道接口，所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接，上壳体的后端面为密封面；上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。

进一步地，上述测试平台还包括用于固定底板的侧顶机构；侧顶机构设置在下壳体上，且前、后、左、右方向至少设置一个；侧顶机构包括固定座、外壳、芯体以及滚珠；固定座固定安装在下壳体上，外壳与固定座螺纹连接，外壳的内部设有芯体，滚珠嵌装于外壳上，其一部分与芯体接触，另一部分外露出外壳。

进一步地，上述滚珠外露出外壳的部分前端为平面。

进一步地，上述下壳体内壁边缘设有多个导向块，所述导向块呈楔形。

进一步地，上述下壳体底部呈圆弧状，且底部内表面设置有多个圆弧筋板；所述上壳体顶部呈圆弧状。

进一步地，上述上壳体的外表面从前之后设置有多条加强筋板，上壳体内表面为光滑表面。

进一步地，上述上壳体的侧面设有辅助抽真空法兰接口。