[发明专利]一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法在审

专利信息
申请号: 202010240813.3 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN111239173A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 辛晶;李伟;娄月;王红伟;戎新格;贾忠伟;杨伟绩 申请(专利权)人: 河北四通新型金属材料股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 代理人: 张焕响
地址: 071100 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 荧光 光谱仪 检测 中间 合金 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,其特征是,所述方法建立的具体过程如下:

(1)标准样品的收集和制备:采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026作为金属杂质元素标准样品,自制铝锆中间合金AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10、AlZr15标准样品;

(2)自制铝锆中间合金标准样品定值:通过《GB/T 20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》对铝锆中间合金标准样品进行检测;

(3)方法建立:根据产品主元素含量的高低分为两个检测方法建立:方法一:主元素Zr=(3.00-10.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10;方法二:主元素Zr=(10.00-15.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr10、AlZr15;以上两种方法均采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026建立金属杂质元素标准曲线;

(4)方法验证:采用此方法“X射线荧光光谱仪分析方法”与“电感耦合等离子体原子发射光谱法”化学分析方法进行多炉次多牌号对比。

2.如权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,其特征是,对铝锆中间合金标准样品进行检测之前,需要对铝锆中间合金标准样品分取稀释达到标准要求。

3.如权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,其特征是,方法建立中的金属杂质元素包括Si、Fe、Cu、Mg、Ca、V、Mn、Ni、Zn、Sn、Ga、Hf。

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