[发明专利]一种老化测试座及老化测试装置

权利要求书

1.一种老化测试座，其特征在于，包括：

底座机构(1)；

压接机构(2)，其设置于所述底座机构(1)上，所述压接机构(2)被配置为承载待测试工件并能够分别电连接于所述待测试工件和PCB板；

翻盖机构(3)，所述翻盖机构(3)转动设置于所述底座机构(1)上并与其可拆卸连接；

压头机构(4)，其转动设置于所述翻盖机构(3)上并能够抵接于所述待测试工件的顶面，所述压头机构(4)被配置为相对于所述待测试工件的位置可调，使得所述压头机构(4)的底面和所述待测试工件的顶面相互平行设置。

2.根据权利要求1所述的老化测试座，其特征在于，所述压头机构(4)包括：

摆动块(41)，其转动设置于所述翻盖机构(3)上；

压头(42)，其设置于所述摆动块(41)的底部并能够抵接于所述待测试工件的顶面。

3.根据权利要求2所述的老化测试座，其特征在于，所述压头机构(4)还包括弹性组件(44)，所述弹性组件(44)位于所述摆动块(41)和所述压头(42)之间并分别与其相抵接。

4.根据权利要求3所述的老化测试座，其特征在于，所述弹性组件(44)包括：

第一弹性件(441)，其位于所述摆动块(41)和所述压头(42)之间并分别与其相抵接，所述第一弹性件(441)设置于所述压头(42)的中部；

第二弹性件(442)，其位于所述摆动块(41)和所述压头(42)之间并分别与其相抵接，所述第二弹性件(442)设置于所述压头(42)的两侧。

5.根据权利要求1所述的老化测试座，其特征在于，所述翻盖机构(3)包括：

翻盖本体(31)，其一端转动设置于所述底座机构(1)上，在所述翻盖本体(31)上设置有用于所述压头机构(4)穿设的过孔；

卡扣(32)，其转动设置于所述翻盖本体(31)的另一端，在所述底座机构(1)上设置有卡槽(122)，所述卡扣(32)选择性卡接于所述卡槽(122)。

6.根据权利要求5所述的老化测试座，其特征在于，所述翻盖机构(3)还包括复位件(33)，所述复位件(33)位于所述卡扣(32)和所述翻盖本体(31)之间并分别与其相抵接。

7.根据权利要求1所述的老化测试座，其特征在于，所述压接机构(2)包括：

第一针板(21)，在所述第一针板(21)上设置有容纳槽(211)，所述容纳槽(211)用于容纳待测试工件；

第二针板(22)，其设置于所述第一针板(21)的下方并设置于所述底座机构(1)上；

探针(23)，其分别穿过所述底座机构(1)、所述第二针板(22)及所述第一针板(21)，所述探针(23)分别电连接于所述PCB板和所述待测试工件。

8.根据权利要求7所述的老化测试座，其特征在于，所述第一针板(21)上设置有第一测试孔，在所述第二针板(22)上对应所述第一测试孔设置有第二测试孔，所述探针(23)分别穿设于所述第一测试孔和所述第二测试孔。

9.根据权利要求1所述的老化测试座，其特征在于，所述底座机构(1)包括基板(11)和基座(12)，所述基座(12)设置于所述基板(11)上，所述基座(12)上设置有所述压接机构(2)，在所述基座(12)上转动设置有所述翻盖机构(3)。

10.一种老化测试装置，其特征在于，包括测试机构和权利要求1-9任一项所述的老化测试座。