[发明专利]均一性计算方法、装置、控制器及存储介质

说明书

本发明提供了均一性计算方法、装置、控制器及存储介质，用于获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性，标准显示面板和目标面板的区别为：标准显示面板的像素通过蒸镀形成，目标显示面板的像素通过喷墨形成，方法包括：获取标准显示面板的亮度值；根据标准显示面板的亮度值，对目标显示面板进行调整，直至目标显示面板的亮度值和标准显示面板的亮度值相同；获取标准显示面板中的发光区域的第一参数信息和目标显示面板中的发光区域的第二参数信息；根据第一参数信息和第二参数信息，获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性。此方案可以量化目标显示面板的发光均一性，以为喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能提供数据参考。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及均一性计算方法、装置、控制器及存储介质。

背景技术

目前，采用喷墨打印技术制作OLED器件具有环境要求低、材料利用率高等优势，是降低OLED器件生产成本的一个可行方法。

喷墨打印技术中墨水的稳定性、喷墨时间的一致性、不同区域墨水的挥发程度等因素，最终会影响OLED器件的色度、效率、寿命，需要后期进行喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能来改善上述问题。然而，目前缺乏具体的均一性计算方法以产生量化的数值为喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能提供数据参考。

因此，有必要提供均一性计算方法和均一性计算装置，以产生量化的数值，以为喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能提供数据参考。

发明内容

本发明实施例提供均一性计算方法、装置、控制器及存储介质，针对通过蒸镀形成的标准显示面板和通过喷墨形成的目标显示面板，在两者亮度值相同的情况下，根据标准显示面板中的发光区域的第一参数信息和目标显示面板中的发光区域的第二参数信息，以获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性；以解决目前无法具体量化目标显示面板的发光均一性，导致无法为喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能提供数据参考的问题。

本发明实施例提供均一性计算方法，用于获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性，所述标准显示面板和所述目标面板的区别为：所述标准显示面板的像素通过蒸镀形成，所述目标显示面板的像素通过喷墨形成，所述方法包括：

获取所述标准显示面板的亮度值；

根据所述标准显示面板的亮度值，对所述目标显示面板进行调整，直至所述目标显示面板的亮度值和所述标准显示面板的亮度值相同；

获取所述标准显示面板中的发光区域的第一参数信息和所述目标显示面板中的发光区域的第二参数信息；

根据所述第一参数信息和所述第二参数信息，获取所述目标显示面板相对于所述标准显示面板的发光均一性。

在一实施例中，所述获取所述标准显示面板的亮度值的步骤之前，包括：

设置所述标准显示面板的亮度值，使得所述标准显示面板的亮度值处于第一预设亮度范围内。

在一实施例中，所述获取所述标准显示面板的亮度值的步骤，包括：

多次测量所述标准显示面板的亮度，得到多个亮度值，其中所述测量所述标准显示面板的亮度的次数不少于预设次数；

获取所述多个亮度值的平均值，并将所述平均值设置为所述标准显示面板的亮度值。

在一实施例中，所述第一参数信息包括第一面积值，所述第一面积值为所述标准显示面板中的发光区域的面积，所述第二参数信息包括第二面积值，所述第二面积值为所述目标显示面板中的目标区域的面积，所述根据所述第一参数信息和所述第二参数信息，获取所述目标显示面板相对于所述标准显示面板的发光均一性的步骤，包括：

获取所述第二面积值与所述第一面积值的比值作为第一比值，所述目标区域的发光亮度处于第二预设亮度范围内；