[发明专利]切断装置及切断品的制造方法在审
申请号: | 202010249986.1 | 申请日: | 2020-04-01 |
公开(公告)号: | CN112309893A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 片冈昌一;宇泽秀俊 | 申请(专利权)人: | 东和株式会社 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽;臧建明 |
地址: | 日本京都府京都市南区上鸟羽*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 切断 装置 制造 方法 | ||
1.一种切断装置,将经树脂密封的封装基板切断成多个半导体封装,且包含:
切断机构,切断所述封装基板;
搬送机构,吸附保持并搬送已利用所述切断机构切断的所述半导体封装;
清洗机构,对利用所述搬送机构搬送的所述半导体封装进行清洗;及
抽吸干燥机构,对已利用所述清洗机构清洗的所述半导体封装进行抽吸干燥。
2.根据权利要求1所述的切断装置,其中
所述抽吸干燥机构包含具有多个抽吸孔的抽吸板。
3.根据权利要求2所述的切断装置,其中
所述抽吸板在与所述半导体封装相对的面包含以将所述多个抽吸孔相互连接的方式形成的槽部。
4.根据权利要求3所述的切断装置,其中
所述槽部相对于所述半导体封装排列的方向倾斜地形成。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的切断装置,还包含:
喷射干燥机构,对已利用所述清洗机构清洗的所述半导体封装喷射气体而进行干燥。
6.一种切断品的制造方法,包含:
切断步骤,将经树脂密封的封装基板切断成多个半导体封装;
搬送步骤,搬送已在所述切断步骤中切断的所述半导体封装;
清洗步骤,对在所述搬送步骤中搬送的所述半导体封装进行清洗;及
抽吸干燥步骤,对已在所述清洗步骤中清洗的所述半导体封装进行抽吸干燥。
7.根据权利要求6所述的切断品的制造方法,其中
在所述抽吸干燥步骤中,使所述半导体封装向规定方向移动。
8.根据权利要求6或7所述的切断品的制造方法,还包含:
喷射干燥步骤,在所述抽吸干燥步骤之前或之后,对已在所述清洗步骤中清洗的所述半导体封装喷射气体而进行干燥。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造