[发明专利]一种包装平整度检测方法、系统、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种包装平整度检测方法，其特征在于，包括：

确定包含待检测包装的图像信息和深度信息；

对所述深度信息进行平面校正；其中，所述平面校正是基于平面深度最大值和传送带平面与深度采集设备像平面的夹角，对所述深度信息中的每一像素点的深度值进行校正，所述平面深度最大值为所述深度信息中的最大深度值；

基于所述图像信息和校正后的深度信息，确定感兴趣区域的深度图；

基于所述感兴趣区域的深度图，对所述待检测包装进行平整度检测；

所述基于所述感兴趣区域的深度图，对所述待检测包装进行平整度检测，具体包括：

确定所述感兴趣区域的深度图中每一像素点的高度值和梯度值；

若每一像素点的高度值均小于预设高度阈值，且每一像素点的梯度值均小于预设梯度阈值，则确定所述待检测包装的平整度合格；否则，确定所述待检测包装的平整度不合格。

2.根据权利要求1所述的包装平整度检测方法，其特征在于，所述确定包含待检测包装的图像信息和深度信息，具体包括：

采集所述图像信息和所述深度信息；

对所述图像信息和所述深度信息进行预处理；

其中，所述预处理包括反光抑制、坏点去除、前景分离和形态学处理中的至少一种。

3.根据权利要求2所述的包装平整度检测方法，其特征在于，所述反光抑制是修正所述深度信息中大于正常像素阈值的像素点的深度值；

所述坏点去除是基于所述深度信息中任一坏点的周边像素点的深度值，更新所述任一坏点的深度值；其中，所述坏点为深度值为0的像素点；

所述前景分离是基于预设前景阈值对所述深度信息进行阈值分割；

所述形态学处理是对二值化后的图像信息进行闭运算。

4.根据权利要求3所述的包装平整度检测方法，其特征在于，所述预设前景阈值是基于如下步骤确定的：

将样本深度信息转换为一维数组，所述一维数组中的深度值按照从高到低的顺序排列；

对所述一维数组进行一阶后向差分，将差分绝对值最大的像素点对应的深度值作为所述预设前景阈值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的包装平整度检测方法，其特征在于，所述基于所述图像信息和校正后的深度信息，确定感兴趣区域的深度图，具体包括：

对所述图像信息进行边缘提取，得到包含所述待检测包装的边缘图；

基于所述边缘图，从所述校正后的深度信息中提取所述感兴趣区域的深度图。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的包装平整度检测方法，其特征在于，所述基于所述图像信息和校正后的深度信息，确定感兴趣区域的深度图，之后还包括：

确定所述感兴趣区域的深度图中所有像素点的最大高度值；

基于所述最大高度值判断所述待检测包装的高度是否合格。

7.一种包装平整度检测系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于确定包含待检测包装的图像信息和深度信息；

校正模块，用于对所述深度信息进行平面校正；其中，所述平面校正是基于平面深度最大值和传送带平面与深度采集设备像平面的夹角，对所述深度信息中的每一像素点的深度值进行校正，所述平面深度最大值为所述深度信息中的最大深度值；

处理模块，用于基于所述图像信息和所述深度信息，确定感兴趣区域的深度图；

检测模块，用于基于所述感兴趣区域的深度图，对所述待检测包装进行平整度检测；

所述检测模块，具体用于确定所述感兴趣区域的深度图中每一像素点的高度值和梯度值；

若每一像素点的高度值均小于预设高度阈值，且每一像素点的梯度值均小于预设梯度阈值，则确定所述待检测包装的平整度合格；否则，确定所述待检测包装的平整度不合格。

8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述的包装平整度检测方法的步骤。

9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的包装平整度检测方法的步骤。