[发明专利]一种芯片检测装置的进料装置在审
申请号: | 202010253875.8 | 申请日: | 2020-04-02 |
公开(公告)号: | CN111285084A | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 李向东 | 申请(专利权)人: | 山东才聚电子科技有限公司 |
主分类号: | B65G47/74 | 分类号: | B65G47/74 |
代理公司: | 淄博汇川知识产权代理有限公司 37295 | 代理人: | 杨小龙 |
地址: | 255088 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 检测 装置 进料 | ||
本发明涉及芯片检测设备领域,具体为一种芯片检测装置的进料装置,包括升降平台、转运托盘、固定平台和转动驱动装置、升降驱动装置。升降驱动装置用以驱动升降平台升降,转动驱动装置用以驱动转运托盘转动。本发明通过转动方式实现空芯片盘与新芯片盘位置的调换,进而实现进出料。本发明具有提高进料的效率,进而具有提高生产效率的有益效果。
技术领域
本发明涉及芯片检测设备领域,具体为一种芯片检测装置的进料装置。
背景技术
通常情况下,芯片的检测设备为一个箱体或者柜体。在箱体或者柜体的内部进行生产和检测工作以保证工人的安全以及生产效率的提高。然而在箱体内部的芯片检测完之后需要从新入料,即将空的芯片盘拿出来在将新的芯片盘放进去。现在较为常用的往复的移动式,首先将空的芯片盘通过皮带或者辊道推出,然后取走,在放入新的芯片盘,在推入。一出一入会浪费时间降低效率,因此设计一种出入同时发生的装置成为提高效率的一种迫切的要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供了具有快速进行芯片盘更换的一种芯片检测装置的进料装置。
本发明要解决的技术问题的技术方案是:一种芯片检测装置的进料装置,其特征在于:包括升降平台、转运托盘、固定平台和转动驱动装置、升降驱动装置;所述固定平台中部设有上下贯通的空腔,空腔四周设有稳固孔,所述升降平台下部对应稳固孔的位置设有稳固杆,所述稳固杆滑动插接在稳固孔中,所述升降平台对应空腔的位置设有转轴孔;所述转运托盘的下部设有与其固定连接的托盘转动轴,所述托盘转动轴的中部插设于固定平台的空腔和升降平台的转轴孔中,并且与转轴孔转动连接;所述升降驱动装置为直线运动驱动装置,升降驱动装置与升降平台连接用以驱动升降平台升降;所述转动驱动装置为圆周运动驱动装置,转动驱动装置与托盘转动轴的下端连接,用以驱动转运托盘转动。
更好的,所述固定平台上部设有限位支柱。
更好的,所述限位支柱为管状,所述限位支柱的管腔与稳固孔上下重合。
更好的,所述升降驱动装置为电动推杆,所述电动推杆的壳体和固定平台固定连接,所述电动推杆的推杆上端和升降平台固定连接或铰接连接。
更好的,所述升降驱动装置包括滑台、气缸、顶杆;所述滑台与固定平台固定连接,所述气缸设于滑台上,所述固定平台内侧设有水平的位移槽,所述顶杆的上部与升降平台的下部铰接连接,所述顶杆的下部与气缸的推杆铰接连接,所述顶杆下端设有凸起并滑动设置在位移槽内部。
更好的,所述转动驱动装置包括电机、联动管,所述联动管管腔截面形状为非圆形,所述电机和固定平台固定连接,所述托盘转动轴的下端的截面形状与联动管的管腔的截面形状相同,并且插接在联动管的管腔内部,所述电机的转轴与联动管连接,或者电机的转轴通过减速器和联动管连接。
更好的,所述转动驱动装置包括电机、U形联动架、转轴固定座;所述U形联动架的闭合端中部设有联动轴,所述联动轴与转轴固定座连接;所述托盘转动轴的下部插接在U形联动架的开口端的中部,托盘转动轴的两侧通过直线轴承和U形联动架的两分支滑动连接;所述电机驱动联动轴转动,进而带动通过U形联动架带动托盘转动轴转动。
更好的,所述转运托盘的两端设有定位凸起,用以限定芯片盘。
更好的,该装置应用于一种芯片检测设备,芯片检测设备设有框形的芯片盘托架,芯片盘托架一端设于检测设备内部,另一端设于检测设备外部,升降平台位于芯片盘托架的内部,需要进行进出料时:升降驱动装置将升降平台抬起,升降平台将转运托盘抬起,转运托盘将检测设备内部已检测完的芯片盘和位于检测设备外部未检测的芯片盘托起并脱离芯片盘托架;转动驱动装置驱动转运托盘转动180度,使检测设备内部和外部芯片盘转换位置;升降驱动装置将升降平台落下,升降平台将转运托盘落下,转运托盘将检测设备外部未检测的芯片盘放置在芯片盘托架位于检测设备内部的一端,完成芯片盘的更换。
本发明的有益效果为:
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