[发明专利]一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法

权利要求书

1.一种电子产品的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述壳体侧边检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的各个侧边进行检测；

所述壳体侧边检测装置包括：第一暗箱和第二暗箱，所述第一暗箱和所述第二暗箱间隔设置在流水线上，所述第一暗箱内至少设置有第一图像采集单元、第二图像采集单元、第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第一图像采集单元配套设置在第一侧，所述第二光源和所述第二图像采集单元配套设置在第二侧，其中，所述第一侧和所述第二侧与被测电子产品相邻的两侧边对应，以检测所述被测电子产品的其中两个侧边的外观情况；

所述第二暗箱内至少设置有第三图像采集单元、第四图像采集单元、第三光源和第四光源，所述第三光源和所述第三图像采集单元配套设置在第三侧，所述第四光源和所述第四图像采集单元配套设置在第四侧，其中，所述第三侧和所述第一侧相对，所述第四侧和所述第二侧相对，以检测所述被测电子产品的另外两个侧边的外观情况。

2.根据权利要求1所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述壳体侧边检测装置还包括处理终端，所述处理终端分别与所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元连接；

所述处理终端用于接收所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元所采集到的图像，以确定所述被测电子产品的壳体侧边是否存在缺陷。

3.根据权利要求2所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述处理终端还用于根据所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元所采集到的图像，分析确定所述被测电子产品的壳体侧边的缺陷等级和缺陷部位。

4.根据权利要求1所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述第一暗箱和所述第二暗箱的底面均设置有植绒布，所述植绒布用于对光线进行漫反射，以使光线均匀的照射到所述被测电子产品的侧边。

5.根据权利要求1所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元均为相机，所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源和所述第四光源均均为无影灯。

6.根据权利要求1所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述被测电子产品为手机。

7.根据权利要求1所述的壳体侧边检测装置，其特征在于，所述第一暗箱和所述第二暗箱内均设置有传感器，所述传感器用于检测所述被测电子产品的位置，以触发流水线停止运动。

8.一种电子产品的壳体侧边检测方法，其特征在于，所述壳体侧边检测方法依赖于如权利要求1～7任一项所述的壳体侧边检测装置，所述壳体侧边检测方法包括：

获取被测电子产品在流水线上的位置；

当所述被测电子产品到达所述第一暗箱内的预设基准线后，触发所述流水线停止运动，并开启所述第一光源、所述第一图像采集单元、所述第二光源和所述第二图像采集单元，通过所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元获取所述被测电子产品其中两个侧边的外观情况；

在所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元完成图像采集后，触发所述流水线重新开始运动；

当所述被测电子产品到达所述第二暗箱内的预设基准线后，触发所述流水线停止运动，并开启所述第三光源、所述第三图像采集单元、所述第四光源和所述第四图像采集单元，通过所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元获取所述被测电子产品另外两个侧边的外观情况。

9.根据权利要求8所述的壳体侧边检测方法，其特征在于，所述壳体侧边检测方法还包括：

分析所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元采集到的图像；

判断所述被测电子产品的侧边是否存在缺陷；

若存在缺陷，则进行缺陷标定。

10.根据权利要求9所述的壳体侧边检测方法，其特征在于，所述进行缺陷标定具体包括：

通过预设的算法确定缺陷的种类以及缺陷的等级；

并根据缺陷的种类和缺陷的等级对所述被测电子产品进行分类。