[发明专利]一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法在审

专利信息
申请号: 202010264508.8 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN111289527A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 叶飞;何帆 申请(专利权)人: 深圳回收宝科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 深圳市中智立信知识产权代理有限公司 44427 代理人: 徐银针
地址: 518000 广东省深圳市福田区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 壳体 侧边 检测 装置 方法
【说明书】:

本申请提供一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法,壳体侧边检测装置设置在流水线的指定位置,用于对电子产品的各个侧边进行检测;壳体侧边检测装置包括:第一暗箱和第二暗箱,第一暗箱和第二暗箱间隔设置在流水线上,第一暗箱内至少设置有第一图像采集单元、第二图像采集单元、第一光源和第二光源,第一光源和第一图像采集单元配套设置在第一侧,第二光源和第二图像采集单元配套设置在第二侧;第二暗箱内至少设置有第三图像采集单元、第四图像采集单元、第三光源和第四光源,第三光源和第三图像采集单元配套设置在第三侧,第四光源和第四图像采集单元配套设置在第四侧。

技术领域

本申请涉及电子产品检测技术领域,具体为一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法。

背景技术

目前,采用流水线的方式对电子产品侧边壳体缺陷进行检测,通常是通过人工观察进行,但是在长时间的人工检测的过程中,会出现疲劳,产生漏检或错检的情况。

鉴于此,克服该现有技术所存在的不足是本技术领域亟待解决的问题。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法,通过分布在第一暗箱和第二暗箱中的光源和图像采集单元之间的相互配合,对被测电子产品进行光学判断,二次的暗箱判断,对易混淆缺陷可进行区分。

为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:提供一种电子产品的壳体侧边检测装置,所述壳体侧边检测装置设置在流水线的指定位置,用于对电子产品的各个侧边进行检测;

所述壳体侧边检测装置包括:第一暗箱和第二暗箱,所述第一暗箱和所述第二暗箱间隔设置在流水线上,所述第一暗箱内至少设置有第一图像采集单元、第二图像采集单元、第一光源和第二光源,所述第一光源和所述第一图像采集单元配套设置在第一侧,所述第二光源和所述第二图像采集单元配套设置在第二侧,其中,所述第一侧和所述第二侧与被测电子产品相邻的两侧边对应,以检测所述被测电子产品的其中两个侧边的外观情况;

所述第二暗箱内至少设置有第三图像采集单元、第四图像采集单元、第三光源和第四光源,所述第三光源和所述第三图像采集单元配套设置在第三侧,所述第四光源和所述第四图像采集单元配套设置在第四侧,其中,所述第三侧和所述第一侧相对,所述第四侧和所述第二侧相对,以检测所述被测电子产品的另外两个侧边的外观情况。

优选地,所述壳体侧边检测装置还包括处理终端,所述处理终端分别与所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元连接;

所述处理终端用于接收所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元所采集到的图像,以确定所述被测电子产品的壳体侧边是否存在缺陷。

优选地,所述处理终端还用于根据所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元所采集到的图像,分析确定所述被测电子产品的壳体侧边的缺陷等级和缺陷部位。

优选地,所述第一暗箱和所述第二暗箱的底面均设置有植绒布,所述植绒布用于对光线进行漫反射,以使光线均匀的照射到所述被测电子产品的侧边。

优选地,所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元、所述第三图像采集单元和所述第四图像采集单元均为相机,所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源和所述第四光源均均为无影灯。

优选地,所述被测电子产品为手机。

优选地,所述第一暗箱和所述第二暗箱内均设置有传感器,所述传感器用于检测所述被测电子产品的位置,以触发流水线停止运动。

为解决上述技术问题,本申请采用的另一个技术方案是:提供一种电子产品的壳体侧边检测方法,所述壳体侧边检测方法依赖于如本申请所述的壳体侧边检测装置,所述壳体侧边检测方法包括:

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