[发明专利]一种高效石墨烯膜鉴别系统及方法

权利要求书

1.一种高效石墨烯膜鉴别系统，其特征在于，包括：

建立模块，用于建立各规格标准石墨烯膜的标准单位面积质量，并构成标准质量集合；

鉴别模块，用于对目标石墨烯膜进行鉴别，并确定所述目标石墨烯膜的指标参数；

其中，所述指标参数包括：所述目标石墨烯膜的碳含量、烧制工艺和收缩率；

处理模块，用于根据所述鉴别模块确定的指标参数，确定所述目标石墨烯膜的目标单位面积质量，并通过将所述目标单位面积质量与所述标准质量集合进行对比分析处理，确定所述目标石墨烯膜的合格性；

所述系统，还包括：

统计模块，用于对所述烧制工艺流程中的每个子流程的烧制参数进行统计；

所述处理模块，用于基于烧制工艺模型对所述烧制参数进行识别，根据识别结果，确定所述烧制参数是否符合烧制标准；

若符合，基于符合的所述烧制参数，对所述烧制工艺模型进行训练；

若不符合，对所述烧制参数进行聚类分析，并根据聚类分析结果，确定不合格的类参数；

同时，确定所述不合格的类参数在所有类参数中的占比B；

其中，β_jn表示合格和不合格的不同类参数中每个参数的烧制值，且n＝1，2...p...q；且当n＝1,2...p时，对应的是不合格的类参数；n＝p+1...q时，对应的是合格的类参数；β_j1表示不合格的第一类参数中的第j1个参数的烧制值，且j1的取值范围为[1，m1]；β_j2表示不合格的第二类参数中的第j2个参数的烧制值，且j2的取值范围为[1，m2]；β_jp表示不合格的第p类参数中的第jp个参数的烧制值，且jp的取值范围为[1，mp]；且，当n＝q时，对应的，jn的取值范围为[1，mq]；

所述处理模块，还用于当所述不合格的类参数的占比B大于不合格的类参数的预设占比B′时，重新基于所述统计模块和处理模型执行相应操作，并获得新的不合格的类参数的占比B1；

若所述不合格的类参数的占比B与新的不合格的类参数的占比B1一致，则基于报警模块进行相应的报警操作；

其中，在获得新的不合格的类参数的占比B1的过程中，还包括：

确定模块，用于确定对应的新的不合格类参数的数据种类与占比B对应的不合格类参数的数据种类是否一致；

若一致，则判断不合格的类参数的占比B与新的不合格的类参数的占比B1是否一致，并继续执行后续操作；

否则，基于时间轴，并根据统计模块和处理模块，获取若干组类参数，进而获得新的不合格的类参数的占比B2；

并判断所述不合格的类参数的占比B与新的不合格的类参数的占比B2的一致性。

2.如权利要求1所述的高效石墨烯膜鉴别系统，其特征在于，所述鉴别模块包括：

截取单元，用于截取所述目标石墨烯膜中的预设区域，获得待鉴别石墨烯膜；

碳含量测定单元，用于对所述待鉴别石墨烯膜进行碳含量测定，获得所述待鉴别石墨烯膜的碳含量；

烧制工艺测定单元，用于对所述待鉴别石墨烯膜进行烧制工艺测定，获得所述待鉴别石墨烯膜的烧制工艺；

收缩率测定单元，用于对所述待鉴别石墨烯膜进行收缩率测定，获得所述待鉴别石墨烯膜的收缩率。

3.如权利要求2所述的高效石墨烯膜鉴别系统，其特征在于，

所述截取单元截取的所述目标石墨烯膜中的预设区域是以所述目标石墨烯膜的中心点为圆心，以不同长度为半径，分别截取的不同方向、不同位置处的块区域；

并由所有块区域构成预设区域。