[发明专利]一种高效石墨烯膜鉴别系统及方法有效
申请号: | 202010266730.1 | 申请日: | 2020-04-07 |
公开(公告)号: | CN111398531B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 郭志军;杨兰贺;王雷;黄国伟 | 申请(专利权)人: | 苏州鸿凌达电子科技有限公司;深圳市汉华热管理科技有限公司 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00;G01N27/00 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 安琪 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴中区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高效 石墨 鉴别 系统 方法 | ||
本发明提供了一种高效石墨烯膜鉴别系统及方法,其系统包括:建立模块,用于建立各规格标准石墨烯膜的标准单位面积质量,并构成标准质量集合;鉴别模块,用于对目标石墨烯膜进行鉴别,并确定目标石墨烯膜的指标参数;处理模块,用于根据鉴别模块确定的指标参数,确定目标石墨烯膜的目标单位面积质量,并通过将目标单位面积质量与标准质量集合进行对比分析处理,确定目标石墨烯膜的合格性。用以通过鉴别确定石墨烯膜的单位面积质量,并通过对比分析处理方法,来确定石墨烯膜的合格性,进而来有效区分劣质材料或非标材料生产的石墨烯膜。
技术领域
本发明涉及导热石墨膜技术领域,特别涉及一种高效石墨烯膜鉴别系统及方法。
背景技术
人工导热石墨烯膜采用聚酰亚胺薄膜(简称PI膜)经高温碳化,石墨化,压延而成,为层状结构,聚酰亚胺薄膜的种类、厂家繁多,质量参差不齐,部分厂商会选用低成本的PI膜烧制高等级的石墨烯膜,且常规检测无法有效识别;
目前检验人工导热石墨烯膜主要性能指标为热扩散、密度、厚度,其中,密度通常采用真密度仪器进行测试,测试原理是选取定量样品采用氩气填充石墨间隙换算其真实样品体积与样品质量,进而换算得到真实密度。
例如:通常25um的标准石墨严格采用50um的PI烧制,如有厂商选用38um的PI烧制,其热扩散、厚度按行业检测方式均会符合要求,密度如若采用上述真密度仪器测试同样符合要求,若38PI烧制的25um石墨烯膜厚度作标准下限,通过排水法或厚度法,测量得出的密度同样容易符合要求,因此用38um的PI烧制的石墨烯膜产品极易流入终端市场,但该规格产品在终端市场中的使用过程中性能会降低30%。
因此,本发明主要解决技术问题是目前烧制石墨的原材料种类繁多,无法有效区分劣质材料或非标材料生产的石墨烯膜。
发明内容
本发明提供一种高效石墨烯膜鉴别系统,用以通过鉴别确定石墨烯膜的单位面积质量,并通过对比分析处理方法,来确定石墨烯膜的合格性,进而来有效区分劣质材料或非标材料生产的石墨烯膜。
本发明提供一种高效石墨烯膜鉴别系统,包括:
建立模块,用于建立各规格标准石墨烯膜的标准单位面积质量,并构成标准质量集合;
鉴别模块,用于对目标石墨烯膜进行鉴别,并确定所述目标石墨烯膜的指标参数,所述指标参数包括:所述目标石墨烯膜的碳含量、烧制工艺和收缩率;
处理模块,用于根据所述鉴别模块确定的指标参数,确定所述目标石墨烯膜的目标单位面积质量,并通过将所述目标单位面积质量与所述标准质量集合进行对比分析处理,确定所述目标石墨烯膜的合格性。
在一种可能实现的方式中,所述鉴别模块包括:
截取单元,用于截取所述目标石墨烯膜中的预设区域,获得待鉴别石墨烯膜;
碳含量测定单元,用于对所述待鉴别石墨烯膜进行碳含量测定,获得所述待鉴别石墨烯膜的碳含量;
烧制工艺测定单元,用于对所述待鉴别石墨烯膜进行烧制工艺测定,获得所述待鉴别石墨烯膜的烧制工艺;
收缩率测定单元,用于对所述待鉴别石墨烯膜进行收缩率测定,获得所述待鉴别石墨烯膜的收缩率。
在一种可能实现方式中,
所述截取单元截取的所述目标石墨烯膜中的预设区域是以所述目标石墨烯膜的中心点为圆心,以不同长度为半径,分别截取的不同方向、不同位置处的块区域;
并由所有块区域构成预设区域。
在一种可能实现的方式中,
所述鉴别模块,还包括:
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