[发明专利]清洁溶液、清洁半导体基板的方法以及制造半导体装置的方法在审

专利信息
申请号: 202010270267.8 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN111826242A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 訾安仁;张庆裕 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: C11D1/86 分类号: C11D1/86;C11D3/44;C11D3/04;C11D3/33;C11D3/20;C11D3/30;C11D3/28;C11D3/26;C11D3/34;C11D3/60;H01L21/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 清洁 溶液 半导体 方法 以及 制造 装置
【权利要求书】:

1.一种清洁溶液,其特征在于,其包含:

具有25δd13、25δp3、及30δh4的Hansen溶解度参数的第一溶剂;

具有-11pKa4的酸解离常数的酸、或具有40pKa9.5的酸解离常数的碱;以及

界面活性剂,

其中该界面活性剂为离子界面活性剂、聚环氧乙烷和聚环氧丙烷、非离子界面活性剂、及其组合,

其中该离子界面活性剂为选自由以下组成的群的一或多者

CH3(CH2)16COO-Na+、CH3(CH2)15N+(CH3)3Br-

其中R为经取代或未经取代脂族、脂环、或芳族基团,并且

该非离子界面活性剂具有A-X或A-X-A-X结构,

其中A为未经取代或经氧或卤素取代、分支或无分支、环状或非环状、饱和C2-C100脂族或芳族基团,并且

X包括选自由以下组成的群的一或多种极性官能基:–OH、=O、-S-、-P-、-P(O2)、-C(=O)SH、-C(=O)OH、-C(=O)OR-、-O-;-N-、-C(=O)NH、-SO2OH、-SO2SH、-SOH、-SO2-、-CO-、-CN-、-SO-、-CON-、-NH-、-SO3NH-、及SO2NH。

2.如权利要求1所述的清洁溶液,其特征在于,其中该聚环氧乙烷及该聚环氧丙烷为选自由以下组成的群的一或多者

其中R、R1、及R2相同或不同,并且为经取代或未经取代脂族、脂环、或芳族基团。

3.如权利要求1所述的清洁溶液,其特征在于,其中该非离子界面活性剂为选自由以下组成的群的一或多者

4.一种清洁一半导体基板的方法,其特征在于,其包含以下步骤:

将第一清洁溶液施加至半导体基板,

其中该第一清洁溶液包含:

具有25δd13、25δp3、及30δh4的Hansen溶解度参数的第一溶剂;

具有-11pKa4的酸解离常数的酸、或具有40pKa9.5的酸解离常数的碱;及

界面活性剂,

其中该界面活性剂为离子界面活性剂、聚环氧乙烷和聚环氧丙烷、非离子界面活性剂、及其组合中的一或多者,

其中该离子界面活性剂为选自由以下组成的群的一或多者

CH3(CH2)16COO-Na+、CH3(CH2)15N+(CH3)3Br-、其中R为经取代或未经取代脂族、脂环、或芳族基团,并且

该非离子界面活性剂具有A-X或A-X-A-X结构,其中A为未经取代或经氧或卤素取代、分支或无分支、环状或非环状、饱和C2-C100脂族或芳族基团,并且

X包括选自由以下组成的群的一或多种极性官能基:–OH、=O、-S-、-P-、-P(O2)、-C(=O)SH、-C(=O)OH、-C(=O)OR-、-O-;-N-、-C(=O)NH、-SO2OH、-SO2SH、-SOH、-SO2-、-CO-、-CN-、-SO-、-CON-、-NH-、-SO3NH-、及SO2NH。

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