[发明专利]基于显示面板数据错充的测试方法及装置

权利要求书

1.一种基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，包括：

S1、PC机通过总线控制像素组输出纯色画面；

S2、所述PC机控制时序控制器的充电时间恒定不变，更新主件的充电时间与所述时序控制器的充电时间保持一致；

S3、所述PC机控制所述主件的充电时间保持不变，并调整所述时序控制器的充电时间；

S4、所述PC机判断光学测试仪器的量测数据是否大于第一阈值，如若大于第一阈值，则执行步骤S5，如若小于或等于所述第一阈值，则执行步骤S2；

S5、观察显示面板中部是否存在明显分界，如若是，则确定错充时间，如若不是，则执行步骤S2。

2.根据权利要求1所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述步骤S1之前还包括：

将所述光学测试仪器与所述显示面板相连接；

将所述显示面板加热，在加热时间大于第二阈值时，则执行步骤S1。

3.根据权利要求2所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述将所述光学测试仪器与所述显示面板相连接的步骤中，所述光学测试仪器的光学探测器件与在所述显示面板的左右两侧相连接。

4.根据权利要求2所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述将所述显示面板进行加热，在加热时间大于第二阈值时，则执行步骤S1的步骤，还包括：

S11、将所述显示面板进行上电开机；

S12、将所述显示面板进行加热；

S13、判断所述显示面板的加热时间是否大于第二阈值时，则执行步骤S1，否则执行步骤S12。

5.根据权利要求4所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述显示面板加热能够通过进行功能操作加速加热效率，其中，所述功能操作包括重载画面。

6.根据权利要求1所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述步骤S3的时序控制器的充电时间是通过微型控制单元发送的步长相应调整所述时序控制器的步长进行调整，其中，所述步长为5ns或10ns。

7.根据权利要求1所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述纯色画面为纯绿色画面。

8.根据权利要求2所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述第一阈值为可以任意设定，所述第二阈值为一个小时。

9.根据权利要求1所述的基于显示面板数据错充的测试方法，其特征在于，所述步骤S1和步骤S2之间还包括：所述PC机通过总线关闭所述主件与所述时序控制器的内部充电补偿。

10.一种基于显示面板数据错充的测试装置，其特征在于，包括PC机、显示面板、光学测试仪器、时序控制模块、像素组、通信接口，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述PC机中，并且被配置由所述时序控制模块执行，所述程序被所述时序控制模块执行时实现如权利要求1-9任一项所述的方法中的步骤。