[发明专利]基于显示面板数据错充的测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于显示面板数据错充的测试方法及装置。所述方法包括：PC机通过总线控制像素组输出纯色画面；控制时序控制器的充电时间恒定不变，更新MASTER的充电时间与时序控制器的充电时间保持一致；控制MASTER的充电时间保持不变，并调整时序控制器的充电时间；判断光学测试仪器的量测数据是否大于第一阈值并观察显示面板中部是否存在明显分界，如若是，则确定错充时间。基于此，本发明能够快速有效的测试基于显示面版是否为数据错充，并有效获取数据错充时间，以此解决现有显示面板充电时存在错充的问题。

技术领域

本发明涉及显示面板测试技术领域，尤其涉及一种基于显示面板数据错充的测试方法及装置。

背景技术

随着面板行业的发展，大尺寸显示面板在快速发展。来自源极驱动器的数据信号需要通过漫长的传输线到达像素电路对应的栅极驱动电路，受数据线等传输路径上的电阻/电容等影响，数据信号达到不同位置的栅极驱动电路存在延迟。

若显示面板内所有像素的充电时间，都按照标准充电时间(像素在特定灰阶电压下，发光亮度到达特定亮度所需要的充电时间，特定亮度为特定灰阶电压在灰阶电压-发光亮度曲线内对应的亮度)，数据信号的延迟将会导致部分像素出现错充的现象；

如现有技术图1所示，由于屏端的电容耦合效应，ck是一个缓慢下降的曲线，如果当前行ck未关闭而下一行开始送数据，下一行的数据就会在当前行显示，发生错充现象。当前行能够真正把ck关闭的时间点叫做错充点，所说测试TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)错充时间就十分必要的，但是目前还没有一个有效的基于显示面板的数据错充进行测试的解决方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种基于显示面板数据错充的测试方法及装置，以解决现有显示面板充电时有效测试数据错充的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种基于显示面板数据错充的测试方法，所述方法包括：

S1、PC机(Personal Computer，又称个人电脑)通过总线控制PG(Pixel group，又称像素组)输出纯色画面；

S2、所述PC机控制SLAVE TCON(Timer Control Register,时序控制器)的充电时间恒定不变，更新MASTER(主件)的充电时间与SLAVE TCON的充电时间保持一致；

S3、所述PC机控制MASTER的充电时间保持不变，并调整SLAVE TCON的充电时间；

S4、所述PC机判断所述光学测试仪器的量测数据是否大于第一阈值，如若大于第一阈值，则执行步骤S5，如若不大于第一阈值，则执行步骤S2；

S5、观察显示面板中部是否存在明显分界，如若是，则确定错充时间，如若不是，则执行步骤S2。

在本发明的基于显示面板数据错充的测试方法，所述步骤S1之前还包括：

将光学测试仪器与显示面板相连接；

将所述显示面板进行加热，在加热时间大于第二阈值时，则执行步骤S1。

在本发明的基于显示面板数据错充的测试方法，所述将光学测试仪器与显示面板相连接的步骤中，所述光学测试仪器的光学探测器件与在所述显示面板的左右两侧相连接。

在本发明的基于显示面板数据错充的测试方法，所述将所述显示面板进行加热，在加热时间大于第二阈值时，则执行步骤S1的步骤，还包括：

S11、将所述显示面板进行上电开机；

S12、将所述显示面板进行加热；

S13、判断显示面板的加热时间是否大于第二阈值时，则执行步骤S1，否则执行步骤S12。