[发明专利]基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统及方法在审
申请号: | 202010280744.9 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111458333A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 朱胜亮;苗荣;赵祥宏;吴昊昊;张元宏;陈丽;杨玉国 | 申请(专利权)人: | 江苏怡通控制系统有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N25/00;G05D23/24;G05B11/42 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 祖之强 |
地址: | 224011 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 图像 处理 温控 双金属 温度 特性 筛选 系统 方法 | ||
1.一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,包括测试炉和处理器,所述操作台的台面开孔用于放置测试炉,所述测试炉内设有多个待测温控器双金属片;
所述操作台上通过支架固定有图像采集装置,且所述图像采集装置的光轴与测试炉的中心线同轴,用于实时采集测试炉内的温控器双金属片图像数据并传输给处理器;
所述处理器根据接收到的图像数据,判断待测温控器双金属片的当前状态,并根据当前测试炉的炉内温度,判定温控器双金属片的膜片跳变温度范围。
2.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,还包括与处理器连接的显示装置,所述显示装置实时显示多个温控器双金属片的膜片跳变时多对应的温度。
3.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,所述测试炉为双层结构,通过测试炉底部的轴流风机进行内层和外层之间的空气循环,均衡炉内温度,温度控制通过PID温控仪、双向可控硅、温度传感器和电加热棒构成的闭环系统实现。
4.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,所述测试炉的中心位置通过夹具固定有铜块,所示铜块的上侧开有用于放置温控器双金属片的凹槽,且所述图像采集装置的光轴延长线穿过凹槽的中心点。
5.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,所述图像采集装置为相机,所述相机与处理器通信连接,用于根据处理器的指令进行拍摄,且所述相机每秒能够拍摄至少一张图像。
6.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,所述图像采集装置为摄像机,所述摄像机与处理器通信连接,用于根据处理器的指令进行拍摄,所述处理器将获得的视频分帧,根据时间序列将各帧图像排列后,判定各个温控器双金属片的膜片跳变温度范围。
7.如权利要求1所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统,其特征在于,所述处理器内预设有每种温控器双金属片的升温曲线,处理器根据不同的根据膜片测试所需的温度曲线,自动设定目标温度,实时采集测试炉内的当前温度。
8.一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选方法,其特征在于,利用权利要求1-7任一项所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统;
将多个温控器双金属片依次放置在测试炉内,并对每个膜片进行标号,;
根据温控器双金属片测试所需的温度曲线,设定目标温度,实时采集测试炉内的当前温度,当温控器双金属片的膜片发生上行跳变或下行跳变时,记录此时的膜片标号和跳变温度;
当每个温控器金属片的膜片都发生跳变后,停止图像采集,输出并保存每个温控器金属片的膜片跳变温度。
9.如权利要求8所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选方法,其特征在于,设置距离最终目标温度的多个子目标温度,当温度到达第一个子目标温度时,将目标温度设为下一个子目标温度,直至到达最终目标温度。
10.如权利要求8所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选方法,其特征在于,多个温控器双金属片依次放置在测试炉内的温控器检测槽内,所述温控器检测槽与处理器通信连接,所述处理器根究检测槽的检测结果与图像处理结果共同判断膜片的跳变情况。
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