[发明专利]基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统及方法

说明书

本公开提供了一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统，属于自动化装备技术领域，包括测试炉和处理器，所述操作台的台面开孔用于放置测试炉，所述测试炉内设有多个待测温控器双金属片；所述操作台上通过支架固定有图像采集装置，且所述图像采集装置的光轴与测试炉的中心线同轴，用于实时采集测试炉内的温控器双金属片图像数据并传输给处理器；所述处理器根据接收到的图像数据，判断待测温控器双金属片的当前状态，并根据当前测试炉的炉内温度，判定温控器双金属片的膜片跳变温度范围；本公开在实现大批量检测的同时，保证了各个双金属片所处环境的一致性，避免了不同的检测槽的检测精度的差异对检测结果的影响。

技术领域

本公开涉及自动化装备技术领域，特别涉及一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统及方法。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术，并不必然构成现有技术。

双金属片温控器是一种将定温后的双金属片作为热敏感反应元件，当温度增高时所产生的热量传递到双金属片上，达到预定温度值时迅速动作，通过机构的作用使触点断开或闭合，当温度下降到复位温度设定时，双金属片便迅速恢复，使触点闭合或断开，达到接通或断开电路的目的，从而控制电路。目前，双金属片作为温控器的核心热敏元件，其温度特性的好坏对于温控器的测试性能具有重要的作用。因此，实现温控器双金属片的快速自动化分温度段筛选对于提升其测试性能具有重要意义。

本公开发明人发现，现有的温控器双金属片的筛选存在如下问题：(1)现有的温控器双金属片测试测量数量较少，测试设备繁琐，存在着成本高、数据统计繁琐和不易追溯的缺点，不能对双金属片温控器实现很好的分温度段的性能测试；(2)现有的温控器双金属片测试方式，多采用设置多个检测槽的方式，在进行批量测试时很难保证每个检测槽的状态一致，因此无法保证大批量检测时的精度；(3)现有的温控器双金属片测试方式，温度控制性能较差，无法实现批量检测各个温控器双金属片的温度一致性。

发明内容

为了解决现有技术的不足，本公开提供了一直基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统及方法，实现了精确的批量化的温控器双金属片分温度段自动化筛选，提升了筛选效率，降低了成本和人力资源。

为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：

本公开第一方面提供了一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统。

一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统，包括测试炉和处理器，所述操作台的台面开孔用于放置测试炉，所述测试炉内设有多个待测温控器双金属片；

所述操作台上通过支架固定有图像采集装置，且所述图像采集装置的光轴与测试炉的中心线同轴，用于实时采集测试炉内的温控器双金属片图像数据并传输给处理器；

所述处理器根据接收到的图像数据，判断待测温控器双金属片的当前状态，并根据当前测试炉的炉内温度，判定温控器双金属片的膜片跳变温度范围。

本公开第二方面提供了一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选方法。

一种基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选方法，利用本公开第一方面所述的基于图像处理的温控器双金属片温度特性筛选系统；

将多个温控器双金属片依次放置在测试炉内，并对每个膜片进行标号，；

根据温控器双金属片测试所需的温度曲线，设定目标温度，实时采集测试炉内的当前温度，当温控器双金属片的膜片发生上行跳变或下行跳变时，记录此时的膜片标号和跳变温度；

当每个温控器金属片的膜片都发生跳变后，停止图像采集，输出并保存每个温控器金属片的膜片跳变温度。