[发明专利]印刷电路板及孔圆柱度测试方法有效

专利信息
申请号: 202010280858.3 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN113513975B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 杨之诚;林淡填;刘海龙;廖志强;吴杰 申请(专利权)人: 深南电路股份有限公司
主分类号: G01B7/28 分类号: G01B7/28;H05K1/02
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 瞿璨
地址: 518117 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 印刷 电路板 圆柱 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种印刷电路板孔圆柱度测试方法,其特征在于,所述印刷电路板包括多层层叠设置的子印刷电路板层(10),所述印刷电路板上定义有穿设多层所述子印刷电路板层(10)的目标孔(20),在每一所述子印刷电路板层(10),围绕所述目标孔(20)设置有多周测试导线(30),每周测试导线(30)间隔设置,每一周测试导线(30)均包括多段子测试导线(31);所述印刷电路板还设置有测试通孔(40),所述测试导线(30)由所述测试通孔(40)导出;所述测试方法包括:

对所述目标孔(20)进行钻孔,检测所述测试导线(30)的信号是否发生变化;

根据每一子印刷电路板层(10)测试导线(30)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离情况;

根据每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离情况,拟合所述目标孔(20)的圆柱度,

其中,所述根据每一子印刷电路板层(10)测试导线(30)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离情况,包括:

根据每一子印刷电路板层(10)每段子测试导线(31)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离方向,根据每一子印刷电路板层(10)中每周测试导线(30)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离距离。

2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试导线(30)的一端作为测试端(32)由所述测试通孔(40)导出;所述对所述目标孔(20)进行钻孔,检测所述测试导线(30)的信号是否发生变化,包括:

在对所述目标孔(20)进行钻孔的过程中,检测所述测试导线(30)的信号是否发生变化;

所述根据每一子印刷电路板层(10)测试导线(30)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离情况,包括:

若所述测试导线(30)导通,则确定钻孔偏离,钻头(50)与所述测试导线(30)导通。

3.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试导线(30)的两端均作为测试端(32)由所述测试通孔(40)导出;所述对所述目标孔(20)进行钻孔,检测所述测试导线(30)的信号是否发生变化,包括:

在对所述目标孔(20)完成钻孔后,检测所述测试导线(30)的信号是否发生变化;

所述根据每一子印刷电路板层(10)测试导线(30)的信号变化,确定每一子印刷电路板层(10)的钻孔偏离情况,包括:

若所述测试导线(30)断开,则确定钻孔偏离,钻头(50)使所述测试导线(30)断开。

4.一种印刷电路板,其特征在于,用于权利要求1-3任意一项所述的印刷电路板孔圆柱度测试方法,所述印刷电路板包括多层层叠设置的子印刷电路板层(10),所述印刷电路板上定义有穿设多层所述子印刷电路板层(10)的目标孔(20),在每一所述子印刷电路板层(10),围绕所述目标孔(20)设置有多周测试导线(30),每一周测试导线(30)均包括多段子测试导线(31);所述印刷电路板还设置有测试通孔(40),所述测试导线(30)由所述测试通孔(40)导出。

5.如权利要求4所述的印刷电路板,其特征在于,每段所述子测试导线(31)均由所述测试通孔(40)导出。

6.如权利要求4所述的印刷电路板,其特征在于,所述测试导线(30)的一端作为测试端(32)由所述测试通孔(40)导出。

7.如权利要求4所述的印刷电路板,其特征在于,所述测试导线(30)的两端均作为测试端(32)由所述测试通孔(40)导出。

8.如权利要求4所述的印刷电路板,其特征在于,所述在每一所述子印刷电路板层(10),围绕所述目标孔(20)设置有多周测试导线(30),每周测试导线(30)间隔设置。

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