[发明专利]三维存储器及其制备方法有效
申请号: | 202010291528.4 | 申请日: | 2020-04-14 |
公开(公告)号: | CN111463211B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 李思晢 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11519 | 分类号: | H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 存储器 及其 制备 方法 | ||
1.一种三维存储器,其特征在于,包括:
形成于衬底上的若干间隔排布的存储单元区;
形成于所述衬底上且位于各存储单元区周围的台阶区;
形成于相邻的所述台阶区之间的虚拟堆叠结构,其中,所述虚拟堆叠结构包括虚拟存储单元区和位于所述虚拟存储单元区周围的虚拟台阶区,所述虚拟台阶区的至少一侧形成虚拟台阶结构;以及,
填充在相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构之间的填充材料层,其中,所述填充材料层覆盖相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构以及相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构之间的衬底。
2.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述虚拟堆叠结构的中心线与相邻的所述存储单元区的中心线的连线的中点重合。
3.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述虚拟堆叠结构的顶面与所述填充材料层的顶面共面。
4.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述存储单元区设有多个贯穿所述存储单元区的存储沟道结构,所述台阶区设有多个贯穿所述台阶区的虚拟沟道结构。
5.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述虚拟堆叠结构设有多个贯穿所述虚拟堆叠结构的虚拟沟道孔,多个所述虚拟沟道孔间隔分布于所述虚拟存储单元区和所述虚拟台阶区。
6.如权利要求5所述的三维存储器,其特征在于,所述虚拟堆叠结构包括第一虚拟堆叠结构和第二虚拟堆叠结构,所述第一虚拟堆叠结构设于所述衬底的表面,所述第二虚拟堆叠结构设于所述第一虚拟堆叠结构背离所述衬底的表面;
每一所述虚拟沟道孔均包括第一子沟道孔和第二子沟道孔,所述第一子沟道孔贯穿所述第一虚拟堆叠结构,所述第二子沟道孔贯穿所述第二虚拟堆叠结构且与所述第一子沟道孔连通。
7.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述三维存储器还包括多个栅缝隙,所述多个栅缝隙贯穿所述存储单元区。
8.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述三维存储器还包括多个虚拟栅缝隙,多个所述虚拟栅缝隙间隔设置于所述虚拟堆叠结构且每一所述虚拟栅缝隙均贯穿所述虚拟堆叠结构,或者,多个所述虚拟栅缝隙间隔设置于所述虚拟堆叠结构和所述填充材料层,且分别贯穿所述虚拟堆叠结构和所述填充材料层。
9.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述填充材料层还设有多个贯穿所述填充材料层的虚拟导电接触孔,且位于同一列的多个所述虚拟导电接触孔间隔设置。
10.如权利要求1所述的三维存储器,其特征在于,所述填充材料层还设有贯穿所述填充材料层的切割槽,所述切割槽与所述虚拟堆叠结构间隔设置。
11.一种三维存储器的制备方法,其特征在于,包括:
在衬底的表面同时形成若干间隔排布的存储单元区、位于各所述存储单元区周围的台阶区,以及各所述台阶区之间的虚拟堆叠结构,其中,所述虚拟堆叠结构包括虚拟存储单元区和位于所述虚拟存储单元区周围的虚拟台阶区,所述虚拟台阶区的至少一侧形成虚拟台阶结构;以及,
在相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构之间填充填充材料层,其中,所述填充材料层覆盖相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构以及相邻的所述台阶区和所述虚拟堆叠结构之间的衬底。
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,所述在衬底的表面形成各所述台阶区之间的虚拟堆叠结构包括:
在所述衬底的表面形成位于各所述台阶区之间的第一虚拟堆叠结构;以及,
在所述第一虚拟堆叠结构背离所述衬底的表面形成第二虚拟堆叠结构。
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的