[发明专利]一种多SITE LCD驱动芯片检测方法及装置

权利要求书

1.一种多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于，上位机经主控板与设置有待测LCD驱动芯片的若干载板连接，所述方法包括：

所述上位机发送检测指令，载入LCD驱动命令信息，驱动LCD驱动芯片管脚输出波形；

所述主控板解析上位机传输的控制信息，分批次对多路LCD驱动芯引脚进行模拟量信号采集，模数转换后将数据存入内存单元；然后将数据从内存单元读出，通过算法判定，核对每路波形电压偏置参数BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功。

2.根据权利要求1所述的多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于：所述主控板通过可编程逻辑器件实现被测LCD驱动芯片的逻辑控制，实现内存单元内存资源分配及读写、实现对各LCD驱动芯片多路波形的算法判定以及USB高速通信，进行LCD驱动芯片驱动全性能检测。

3.根据权利要求1所述的多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于：所述主控板通过ADC模块实现LCD驱动芯片引脚的模拟量信号采集和模数转换，模拟开关矩阵启动配合ADC模块进行信号采样。

4.根据权利要求1所述的多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于：所述内存单元由多片DDR3组成，根据LCD驱动芯片的个数进行内存分配，每片DDR3存储对应的每个LCD驱动芯片的管脚波形数据。

5.根据权利要求4所述的多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于：对每片DDR3的内存进行分割，分割成若干最小存储单元“子BANK”，每个子BANK大小为8MB，模数转换后的浮点阶梯信号数字量分别存入DDR3分割成的8MB最小单元，采样完毕后对DDR3进行循环“读取-＞计算”，计算每个“子BANK”中的阶梯信号的电压偏置参数BIAS，与上位机原始发出的电压偏置参数BIAS相比对，判定多SITE LCD驱动芯片是否检测成功。

6.根据权利要求5所述的多SITE LCD驱动芯片检测方法，其特征在于：根据上位机提供的被测LCD驱动芯片主频H1、设定占空比值1/x和可编程逻辑器件对ADC模块的固定采样速率H2，在若干8MB空间内，计算出存储的偏移地址i的值大小，i＝(H2*x)/HI，分别读取V0，V1，...VN+1，得到一条V0-＞V1-＞...VN+1的阶梯曲线；为防止读取V0，V1，...VN+1刚好采到波形的上升沿或者下降沿，在若干8MB空间内，计算出i/2的值大小，有V′0，V′1，...V′N+1值，得到一条V′0-＞V′1-＞...V′N+1的阶梯曲线，阶梯信号曲线看作为有周期规律序列号，每条序列号与PC原始序列号进行比对判定结果。

7.一种多SITE LCD驱动芯片检测装置，其特征在于：包括上位机、主控板、电源板和若干设置有待测LCD驱动芯片的载板，所述主控板包括可编程逻辑器件、内存单元、ADC模块、模拟开关矩阵和USB总线芯片，

所述可编程逻辑器件对USB总线芯片、模拟开关矩阵、ADC模块、LCD驱动芯片管脚进行控制；对上位机传输的控制信息进行解析，启动模拟开关矩阵和ADC模块进行数据采集；将ADC模块转换完成的数据根据内存分配存储到内存单元中；将内存单元中的数字电平值进行读取，算法判定，核对每路波形电压偏置参数BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功；

所述ADC模块分批次对多路LCD驱动芯片引脚进行模拟量信号采集；

所述电源板通过连接器与主控板连接，为主控板提供低压稳压源；

每个载板设置无盖测试插座，机械手臂与测试插座对接，操作被测LCD驱动芯片放入和吸取。

8.根据权利要求7所述的多SITE LCD驱动芯片检测装置，其特征在于：所述主控板与每个载板之间分别设置有模拟量采样通道、逻辑接口通道和电源通道，所述可编程逻辑器件通过LCD控制总线与逻辑接口通道连接，所述模拟开关矩阵与模拟量采样通道连接。