[发明专利]一种多SITE LCD驱动芯片检测方法及装置

说明书

本发明公开一种多SITE LCD驱动芯片检测方法，所述上位机发送检测指令，载入LCD驱动命令信息，驱动LCD驱动芯片管脚输出波形；所述主控板解析上位机传输的控制信息，分批次对多路LCD驱动芯引脚进行模拟量信号采集，模数转换后将数据存入内存单元；然后将数据从内存单元读出，通过算法判定，核对每路波形BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功。本发明还公开一种多SITE LCD驱动芯片检测装置，本发明可同时控制多SITE LCD驱动芯片进行全性能检测，使用方便，效率高。

技术领域

本发明属于芯片检测技术领域，具体涉及一种多SITE LCD驱动芯片检测方法及装置。

背景技术

目前对于LCD驱动芯片的检测多为单SITE检测(即单路检测，即一次只能测试一颗芯片)，批量检测时间较长，效率较低，很大程度上会影响交期及工效；ATE(Automatic TestEquipment)集成电路检测模块兼容性较低，甚至需要挪换不同型号的机台来进行检测，这对于产线的检测灵活性造成很大的影响；而对于LCD驱动芯片的功能检测来说大多数检测方案还采用还原图形界面的方式，检测时根据芯片型号大小需要更换专用检测液晶，并且对于明暗度和稳定性无法相对正确的估判，再者，对于进行引脚检测方案，很多只能检测部分引脚，缺乏专业理论支撑和算法判定，这并不能符合全性能检测的要求。

发明内容

本发明解决的技术问题：单SITE检测，批量检测时间较长，效率较低；还原图形界面的方式，检测时需要根据芯片型号大小需要更换专用检测液晶，且性能检测不全面。

技术方案：为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种多SITE LCD驱动芯片检测方法，上位机经主控板与设置有待测LCD驱动芯片的若干载板连接，所述方法包括：

所述上位机发送检测指令，载入LCD驱动命令信息，驱动LCD驱动芯片管脚输出波形；

所述主控板解析上位机传输的控制信息，分批次对多路LCD驱动芯引脚进行模拟量信号采集，模数转换后将数据存入内存单元；然后将数据从内存单元读出，通过算法判定，核对每路波形电压偏置参数BIAS与上位机设定值的一致性，将结果上传至上位机，判定芯片是否检测成功。

作为优选，所述主控板通过可编程逻辑器件实现被测LCD驱动芯片的逻辑控制，实现内存单元内存资源分配及读写、实现对各LCD驱动芯片多路波形的算法判定以及高速通信，进行LCD驱动芯片驱动全性能检测。

作为优选，所述主控板通过ADC模块实现LCD驱动芯片引脚的模拟量信号采集和模数转换，模拟开关矩阵启动配合ADC模块进行信号采样。

作为优选，所述内存单元由多片DDR3组成，根据LCD驱动芯片的个数进行内存分配，每片DDR3存储对应的每个LCD驱动芯片的管脚波形数据。

作为优选，对每片DDR3的内存进行分割，分割成若干最小存储单元“子BANK”，每个子BANK大小为8MB，模数转换后的浮点阶梯信号数字量分别存入DDR3分割成的8MB最小单元，采样完毕后对DDR3进行循环“读取-＞计算”，计算每个“子BANK”中的阶梯信号的BIAS，与上位机原始发出的BIAS相比对，判定多SITE LCD驱动芯片是否检测成功。

作为优选，根据上位机提供的被测LCD驱动芯片主频H1、设定占空比值1/x和可编程逻辑器件对ADC模块的固定采样速率H2，在若干8MB空间内，计算出存储的偏移地址i的值大小，i＝(H2*x)/H1，分别读取V0，V1，...VN+1，得到一条V0-＞V1-＞...VN+1的阶梯曲线；为防止读取V0，V1，...VN+1刚好采到波形的上升沿或者下降沿，在若干8MB空间内，计算出i/2的值大小，有V′0，V′1，...V′N+1值，得到一条V′0-＞V′1-＞...V′N+1的阶梯曲线，阶梯信号曲线看作为有周期规律序列号，每条序列号与PC原始序列号进行比对判定结果。