[发明专利]信息确定的方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种信息确定的方法，其特征在于，所述方法包括：

确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；

根据所述第一系统误差、所述第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定所述MUF的随机方差和MUF的系统方差；所述第一核材料和所述第二核材料是相同的核材料；

根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息，包括：

根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的偏差；

根据所述MUF的偏差和所述MUF，确定所述MUF的原因信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息，包括：

根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的方差和所述MUF的偏差；

根据所述MUF的方差和所述MUF的偏差，确定所述MUF的相对偏差；

根据所述MUF的相对偏差，确定所述MUF的原因信息。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取不同预设周期内所述核材料在每个材料平衡区的核材料信息；

根据相邻的预设周期内所述核材料在所述每个材料平衡区的核材料信息，对所述核材料进行材料平衡结算，得到所述MUF。

5.一种信息确定的装置，其特征在于，所述装置包括：

误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差的方差和第一随机误差的方差；

方差确定模块，用于根据所述第一系统误差的方差、所述第一随机误差的方差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差的方差、第二随机误差的方差和第三随机误差的方差，确定所述MUF的随机方差和MUF的系统方差；所述第一核材料和所述第二核材料是相同的核材料；

信息确定模块，用于根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述信息确定模块，具体用于：

根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的偏差；

根据所述MUF的偏差和所述MUF，确定所述MUF的原因信息。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述信息确定模块，具体用于：

根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的方差和所述MUF的误差；

根据所述MUF的方差和所述MUF的误差，确定所述MUF的相对偏差；

根据所述MUF的相对偏差，确定所述MUF的原因信息。

8.根据权利要求5-7任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

获取模块，用于获取不同预设周期内所述核材料在每个材料平衡区的核材料信息；

结算模块，用于根据相邻的预设周期内所述核材料在所述每个材料平衡区的核材料信息，对所述核材料进行材料平衡结算，得到所述MUF。

9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如权利要求1-4任意一项所述的信息确定的方法。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-4任意一项所述的信息确定的方法。