[发明专利]信息确定的方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。

技术领域

本发明属于控制技术领域，尤其涉及一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

不平衡差(MaterialUnaccountedFor，MUF)评价是指在平衡周期期末，用已知的初始的核材料量与最终的实物盘存的核材料量进行比较，结合平衡周期内核材料增加和减少的量，来推断该周期内是否发生了核材料的非法转移和重大缺失，也就是出现MUF的原因。

但是，只通过MUF本身来确定出现MUF的原因的准确性低。

发明内容

本发明实施例提供一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。

第一方面，提供了一种信息确定的方法，该方法包括：

确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；

根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；

根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。

在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，包括：

根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；

根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。

在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，包括：

根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差；

根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差；

根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。

在一种可能的实现方式中，该方法还包括：

获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息；

根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材料平衡结算，确定MUF。

第二方面，提供了一种信息确定的装置，该装置包括：

误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；

方差确定模块，用于根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；

信息确定模块，用于根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。

在一种可能的实现方式中，信息确定模块，具体用于：

根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；

根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。