[发明专利]碳粉残量检测装置

权利要求书

1.一种碳粉残量检测装置，其特征在于，包含：

墨粉盒，内部储存有碳粉，并具有透光区；

搅拌结构，可转动地设置于所述墨粉盒中，并搅拌所述碳粉；

反射区，设置于所述搅拌结构上；

第一清洁组件，设置于所述搅拌结构上；

第二清洁组件，设置于所述墨粉盒上；以及

收发器，设置于所述墨粉盒的外部的本体，并发出发射信号通过所述透光区到达所述反射区，所述反射区通过反射所述发射信号而产生的反射信号通过所述反射区被所述收发器接收；其中

转动中的所述第一清洁组件间歇地清洁固定的所述透光区，固定的所述第二清洁组件间歇地清洁转动中的所述反射区。

2.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中所述第二清洁组件靠近所述透光区设置。

3.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中基于所述搅拌结构的转动方向，所述第一清洁组件与所述反射区的相位相差180、150、135、120、90或45度。

4.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中在固定的所述第二清洁组件清洁转动中的所述反射区后，所述反射区才被转动到所述透光区的对面。

5.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中所述第二清洁组件固定于所述墨粉盒的固定座上，所述搅拌结构枢接于所述固定座上。

6.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中所述第二清洁组件固定于所述墨粉盒的固定座上，所述固定座具有缺口，所述发射信号通过所述缺口进入所述透光区，所述反射信号透过所述缺口回到所述收发器。

7.如权利要求1所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中：依据所述反射信号的位准维持于低位准，判断碳粉残量为高；以及依据所述反射信号的位准维持于低位准伴随一个或多个短暂的高位准期间，判断碳粉残量为低。

8.如权利要求7所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中当判定碳粉残量为低时，启动补充墨粉盒补充新碳粉至所述墨粉盒中。

9.一种碳粉残量检测装置，其特征在于，包含：

墨粉盒，内部储存有碳粉，并于一侧具有透光区；

搅拌结构，可转动地设置于所述墨粉盒中，并搅拌所述碳粉；

反射区，设置于所述墨粉盒的另一侧的内表面；

第一清洁组件，设置于所述搅拌结构的一侧上；

第二清洁组件，设置于所述搅拌结构的另一侧上；以及

收发器，设置于所述墨粉盒的外部的本体，并发出发射信号通过所述透光区到达所述反射区，所述反射区通过反射所述发射信号而产生的反射信号通过所述反射区被所述收发器接收；其中

转动中的所述第一清洁组件间歇地清洁固定的所述透光区，转动中的所述第二清洁组件间歇地清洁固定的所述反射区。

10.如权利要求9所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中所述透光区到所述反射区的光路平行于所述搅拌结构的轴向，且垂直于所述墨粉盒可被抽取替换的方向。

11.如权利要求9所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中所述透光区到所述反射区的光路垂直于所述搅拌结构的轴向，且垂直于所述墨粉盒可被抽取替换的方向。

12.如权利要求9所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中：依据所述反射信号的位准维持于低位准，判断碳粉残量为高；以及依据所述反射信号的位准维持于高位准伴随一个或多个短暂的低位准期间，判断碳粉残量为低。

13.如权利要求12所述的碳粉残量检测装置，其特征在于，其中当判定碳粉残量为低时，启动补充墨粉盒补充新碳粉至所述墨粉盒中。