[发明专利]X射线成像设备的几何校正方法及装置

权利要求书

1.一种X射线成像设备的几何校正方法，其特征在于，包括：

利用X射线成像设备采集基础角度下校正体模的第一X光图像，以及采集当前角度下所述校正体模的第二X光图像；

对所述第一X光图像进行底帽变换，得到第一变换图像；

对所述第一变换图像进行二值化处理，得到第一二值化图像；

从所述第一二值化图像中提取所述校正体模中的标记物，得到第一实际投影图像；

根据所述基础角度下所述校正体模中标记物的第一空间位置，和与所述第一空间位置对应的所述第一实际投影图像中标记物的投影位置，确定所述基础角度对应的基础映射参数值，所述基础角度为，C型臂左右旋转角度为0°，C型臂前后旋转角度为设定角度；

映射参数为X射线成像设备采集的三维体数据与二维投影图像的映射关系中的参数；

根据所述基础映射参数值和当前角度，确定当前角度对应的参考映射参数值；

基于所述参考映射参数值和所述第二X光图像，获取当前角度下所述X射线成像设备采集的三维体数据与二维投影图像的目标映射关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述基础映射参数值和当前角度，确定当前角度对应的参考映射参数值，包括：

根据当前角度中绕X轴的旋转角度值和与X轴对应的第一角度差量确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的绕X轴的旋转角度值；

根据当前角度中绕Y轴的旋转角度值和与Y轴对应的第二角度差量确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的绕Y轴的旋转角度值；

将所述基础角度中绕Z轴的旋转角度值确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的绕Z轴的旋转角度值；

将所述基础映射参数值中相对于X轴的偏移量确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的相对于X轴的偏移量；

将所述基础映射参数值中相对于Y轴的偏移量确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的相对于Y轴的偏移量；

将所述基础映射参数值中相对于Z轴的偏移量确定为所述当前角度对应的参考映射参数值中的相对于Z轴的偏移量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述参考映射参数值和所述第二X光图像，获取当前角度下所述X射线成像设备采集的三维体数据与二维投影图像的目标映射关系，包括：

根据所述参考映射参数值，获取当前角度对应的参考投影图像；

根据所述第二X光图像，获取当前角度对应的第二实际投影图像；

将所述参考投影图像与所述第二实际投影图像进行匹配，得到匹配图像；

根据当前角度下所述校正体模中标记物的第二空间位置与所述匹配图像中标记物的投影位置，确定当前角度下所述X射线成像设备采集的三维体数据与二维投影图像的目标映射关系。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述参考映射参数值，获取当前角度对应的参考投影图像，包括：

根据所述参考映射参数值确定参考映射矩阵；

利用所述参考映射矩阵对当前角度下所述校正体模中标记物的第二空间位置进行投影，得到当前角度对应的参考投影图像。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第二X光图像，获取当前角度对应的第二实际投影图像，包括：

对所述第二X光图像进行底帽变换，得到第二变换图像；

对所述第二变换图像进行二值化处理，得到第二二值化图像；

从所述第二二值化图像中提取所述校正体模中的标记物，得到第二实际投影图像。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述参考投影图像与所述第二实际投影图像进行匹配，得到匹配图像，包括：

对于所述参考投影图像中的每一像素点，分别从所述第二实际投影图像中找到与所述像素点距离最近的点，作为所述像素点对应的匹配像素点；

从所述参考投影图像中提取目标像素点，所述目标像素点为与匹配像素点具有一一对应关系的像素点；

从所述第二实际投影图像中提取与所述目标像素点对应的目标匹配像素点，组成目标匹配点集，所述目标匹配点集对应的图像即为匹配图像。