[发明专利]采样率校正方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种采样率校正方法，其特征在于，包括如下步骤：

统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间；

根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间；

根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；

根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正；

根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正，包括如下步骤：

如果所述采样时间大于所述校正时间，且所述采样时间与所述校正时间的差值大于等于第二预设阈值，则从采样数据中去除一个采样点的数据；

如果所述采样时间小于所述校正时间，且所述校正时间与所述采样时间的差值大于等于第二预设阈值，则在采样数据中增加一个采样点的数据。

2.根据权利要求1所述的采样率校正方法，其特征在于，所述计算一个校正周期内的采样时间，包括如下步骤：

根据当前采样率计算采样周期的时间长度；

将一个校正周期内的采样点数量乘以一个采样周期的时间长度，得到一个校正周期内的采样时间。

3.根据权利要求1所述的采样率校正方法，其特征在于，所述统计一个校正周期内的采样点数量之前，还包括如下步骤：

于量测开始时，采集历史偏差率和极限偏差率；

根据历史偏差率和极限偏差率预测校正周期。

4.根据权利要求3所述的采样率校正方法，其特征在于，所述根据历史偏差率和极限偏差率预测校正周期，包括如下步骤：

根据如下公式计算极限校正周期：

极限校正周期＝采样周期/极限偏差值；

根据如下公式计算预测校正周期：

预测校正周期＝极限校正周期*(极限偏差率/历史偏差率)。

5.根据权利要求3所述的采样率校正方法，其特征在于，所述根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差之后，还包括如下步骤：

判断所述采样偏差的绝对值是否大于等于第一预设阈值，如果是，则重新调整校正周期。

6.根据权利要求5所述的采样率校正方法，其特征在于，所述重新调整校正周期，包括如下步骤：

采用如下公式计算当前校正周期的偏差率：

当前校正周期的偏差率＝当前校正周期的偏差值/校正周期时长；

采用如下公式重新计算调整后的校正周期：

调整后的校正周期＝1/(当前校正周期的采样率*当前校正周期的偏差率)，单位为秒。

7.根据权利要求1所述的采样率校正方法，其特征在于，所述第二预设阈值为一个采样周期。

8.根据权利要求1所述的采样率校正方法，其特征在于，所述从采样数据中去除一个采样点的数据，包括去除该采样周期中最后采集的一个采样点的数据。

9.一种采样率校正系统，其特征在于，用于实现权利要求1至8中任一项所述的采样率校正方法，所述系统包括：

偏差统计模块，用于统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间，根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间，以及根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；

偏差校正模块，用于根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正。

10.根据权利要求9所述的采样率校正系统，其特征在于，所述系统还包括：

历史记录模块，用于记录历史偏差率；

校正周期预测模块，用于在量测开始时，采集历史偏差率和极限偏差率，并根据历史偏差率和极限偏差率预测校正周期；

校正周期调整模块，用于在采样偏差的绝对值大于等于第一预设阈值时，重新调整校正周期。