[发明专利]采样率校正方法、系统、设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种采样率校正方法、系统、设备及存储介质，所述方法包括：统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间；根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间；根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正。本发明无需修改或增加硬件电路，经过采样率校正，改善了采样时所产生的时间偏差，提高了采样精度，经过实验证明可以大大提升采样率的准确性并且稳定无漂移，该方法可以适应于不同晶片的差异性，能够在保证采样数据的精度的同时也保证数据的准确性。

技术领域

本发明涉及采样技术领域，尤其涉及一种采样率校正方法、系统、设备及存储介质。

背景技术

采样率，指的是每秒从连续信号中提取并组成离散信号的采样个数，用赫兹(Hz)来表示。通常采样芯片是通过内置时钟或者外接晶振来提供其采样基准的，其都会受到器件差异性、温度、时间老化等影响造成时间漂移。例如，对于心电仪设备，其中的心率采集芯片存在偏差，MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)运行也存在偏差，导致同样数量的采样数据时长不一致，从而会因为计时不准确而影响数据采集效果。

现有技术中的采样率校正方式主要有两种，一种方式是提供一种电路，通过时域差值的方式校正采样率，具体地，该电路包括：第一电路回路，具有上/下计数器，配置其以接收输入信号和回馈信号；以及加法器，配置其以接收来自上/下计数器的输出信号，并且向上/下计数器输出进位输出作为回馈信号；以及第二电路回路，配置其以传输来自加法器的和输出到调制器，并且回馈来自调制器的输出信号到加法器的输入。然而该种方式需要增加硬件电路来校正采样率，比较繁琐。

另一种方式是采用一种自动频率校正方法，包括如下步骤：S1、对接收到的经过采样的频点为15.36MHZ，数据速率为61.44MHZ的数字信号进行下变频抽取滤波，得到269.473K的GSM信号；S2、对GSM信号进行FCCH检测获取FCCH信号；S3、将FCCH数据拟合成直线的斜率并解调出输出斜率；S4、将输出斜率与理想斜率进行比较计算出斜率偏差值相应得到频率偏差值；然后根据斜率偏差值通过查找表得到同步控制电路的输入数据并将输入数据配置给同步控制电路；S5、同步控制电路根据输入数据产生输出电压控制晶振时钟脉冲CP实现频率校正。该种方式先通过演算法计算出偏差，然后再控制电压来控制晶振的时钟进行校正，同样也比较复杂，需要修改硬件电路。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明的目的在于提供一种采样率校正方法、系统、设备及存储介质，无需对硬件电路进行修改或增加，经过预测与校正，改善采样时所产生的时间偏差，提高采样精度。

本发明实施例提供一种采样率校正方法，包括如下步骤：

统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间；

根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间；

根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；

根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正。

可选地，所述计算一个校正周期内的采样时间，包括如下步骤：

根据当前采样率计算采样周期的时间长度；

将一个校正周期内的采样点数量乘以一个采样周期的时间长度，得到一个校正周期内的采样时间。

可选地，所述统计一个校正周期内的采样点数量之前，还包括如下步骤：

于量测开始时，采集历史偏差率和极限偏差率；

根据历史偏差率和极限偏差率预测校正周期。

可选地，所述根据历史偏差率和极限偏差率预测校正周期，包括如下步骤：

根据如下公式计算极限校正周期：