[发明专利]储存测试图案信息的存储模块、包括其的计算机系统及其测试方法

权利要求书

1.一种存储模块，包括：

至少一个半导体存储装置；以及

测试图案存储器，被配置为：

储存用于测试所述至少一个半导体存储装置的第一测试图案信息，以及

在测试操作中将第一测试图案信息传送至主机。

2.根据权利要求1所述的存储模块，其中，测试图案存储器对应于安装在存储模块上的串行组件识别装置(SPD)和寄存器时钟驱动器(RCD)之一。

3.根据权利要求1所述的存储模块，其中，所述至少一个半导体存储装置被配置为由主机的基本输入输出系统BIOS在主机的启动操作中对其执行测试操作。

4.根据权利要求3所述的存储模块，其中，第一测试图案信息对应于用于生成在测试操作中使用的测试图案的参数。

5.根据权利要求4所述的存储模块，其中，存储模块被配置为接收由主机生成的测试图案。

6.根据权利要求3所述的存储模块，其中，第一测试图案信息对应于用于执行测试操作的代码。

7.根据权利要求1所述的存储模块，还包括：

处理电路，被配置为基于储存在测试图案存储器中的第二测试图案信息生成第一测试图案，第一测试图案用于测试所述至少一个半导体存储装置。

8.根据权利要求7所述的存储模块，其中，处理电路被配置为基于由存储模块基于第二测试图案信息或第二测试图案中的一个或多个而内部生成的第一测试图案来测试所述至少一个半导体

存储装置，第二测试图案由主机基于第一测试图案信息生成。

9.根据权利要求1所述的存储模块，还包括：

处理电路，被配置作为编码器，从而

编码第一测试图案信息以生成编码的第一测试图案信息，以及

传送所编码的第一测试图案信息至主机。

10.一种测试存储模块的方法，所述方法包括：

读取储存在存储模块中的测试图案参数；

基于从存储模块读取的测试图案参数来生成测试图案；以及

基于测试图案测试存储模块。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，存储模块包括测试图案存储器，测试图案存储器为配置为储存测试图案参数的非易失性存储器。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，测试图案参数包括根据存储模块的代、容量和类型中的至少一种的特性而设置的测试属性。

13.根据权利要求11所述的方法，其中，测试图案存储器的容量在数百字节至数百兆字节之间。

14.根据权利要求11所述的方法，其中，测试图案存储器对应于安装在存储模块上的串行组件识别装置(SPD)和寄存器时钟驱动器(RCD)中的至少一个。

15.根据权利要求10所述的方法，还包括：

由存储模块对所读取的测试图案参数执行安全编码，以生成安全编码的测试图案参数；

将安全编码的测试图案参数从存储模块传送至主机装置；以及

在主机装置中对安全编码的测试图案参数执行安全解码。

16.根据权利要求10所述的方法，还包括：

选择存储模块中未加载数据的存储区域，其中

所述测试基于测试图案来测试存储模块的存储区域。