[发明专利]电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法、装置以及系统

说明书

本发明公开了一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法，包括扫描采集盖板图像，获得二值化图像；提取二值化图像中的功能孔轮廓的像素点；将功能孔轮廓线上的像素点按照预定线段拟合，获得轮廓拟合线，判断功能孔轮廓线和轮廓拟合线不重合部分的像素坐标差值是否大于预设差值，若是，则功能孔轮廓线和轮廓拟合线不重合部分为盖板的功能孔存在缺陷的位置。本申请中对盖板的二值化图像中功能孔的轮廓像素点进行拟合，通过盖板的轮廓线和轮廓拟合线的像素点重合情况确定功能孔是否存在缺陷，提高了对功能孔缺陷检测的精度，进而提高电子设备的质量。本申请还提供了一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测装置和系统，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及电子产品质量检测技术领域，特别是涉及一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法、装置以及系统。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，智能手机、平板电脑、手表电话等等电子产品成为了人们生活和工作中必不可少的便携式移动设备。一般在大多数的电子产品上需要配置有语音功能、相机功能等，相应地，在电子设备的盖板就配套的设置声音孔、相机孔甚至按键孔等各种功能孔，以容纳相应的功能部件。

而在实际生产过程中，受工艺限制，盖板上的功能孔在实际应用中，不可避免的会出现缺陷。例如，对于手机玻璃盖板而言，声音孔的崩边是最长见的缺陷之一。目前声音孔或者类似的功能孔的崩边检测主要以人工肉眼检测为主，由于崩边的程度并不明显，需要人工不停的变换照明角度，从不同方位去观测，同时还要以黑色的底部材料作为辅助检测工具。人工检测的方法不仅耗时长，且由于长时间的工作，视觉会产生疲劳，导致出现遗漏缺陷的现象。同时人工检测还消耗了大量的人力资源。

发明内容

本发明的目的是提供一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法、装置以及系统，提高了电子设备盖板上功能孔缺陷检测的精准度。

为解决上述技术问题，本发明提供一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法，包括：

扫描采集盖板图像，并对所述盖板图像进行二值化处理，获得二值化图像；

在所述二值化图像中定位出功能孔图像区域；

提取所述功能孔图像区域中的功能孔轮廓的像素点，获得功能孔轮廓线；

将所述功能孔轮廓线上的像素点按照预定线段拟合，获得轮廓拟合线，其中所述预定线段为根据所述盖板的功能孔形状设定的可拼接形成所述功能孔的轮廓形状的线段；

判断所述功能孔轮廓线和所述轮廓拟合线不重合部分的像素坐标差值是否大于预设差值，若是，则所述功能孔轮廓线和所述轮廓拟合线不重合部分为所述盖板的功能孔存在缺陷的位置。

可选地，在所述二值化图像中定位出功能孔图像区域，包括：

根据所述盖板的型号，定位出所述二值化图像中功能孔图像区域。

可选地，对所述盖板图像进行二值化处理，包括：

以自适应的二值化算法对所述盖板图像进行二值化处理。

可选地，将所述功能孔轮廓线上的像素点按照预定线段拟合，获得轮廓拟合线，包括：

根据所述功能孔轮廓线上各个像素点的坐标值，以及对称轴公式，获得所述功能孔轮廓线的对称轴直线方程；

根据所述对称轴直线方程，确定所述功能孔轮廓线和所述主对称轴直线方程的交点像素点；

以所述交点像素点为基准，选取所述功能孔轮廓线上的多个像素点的坐标值，按照所述预设线段拟合，获得轮廓拟合线。

可选地，所述预设线段包括至少两种线段；

以所述交点像素点为基准，选取所述功能孔轮廓线上的多个像素点的坐标值，按照所述预设线段拟合，获得轮廓拟合线，包括：