[发明专利]一种蒸发镀膜制作装置及制作蒸发镀膜的方法在审
申请号: | 202010323641.6 | 申请日: | 2020-04-22 |
公开(公告)号: | CN111394700A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 胡茂横 | 申请(专利权)人: | 深圳恒泰克科技有限公司 |
主分类号: | C23C14/30 | 分类号: | C23C14/30;C23C14/50;C23C14/54 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 宋鹏跃;彭涛 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道办事处*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 蒸发 镀膜 制作 装置 方法 | ||
1.一种蒸发镀膜制作装置,包括真空腔、转盘、两基片、两挡板、转轴、蒸发中心平面;特征在于:所述转盘内设在真空腔内,且转轴一端与转盘连接,转轴的另一端贯穿至真空腔外;所述两基片分别设在转盘的两侧,且所述其中一基片下设挡板;所述蒸发中心平面对应转盘内设在真空腔内,在所述蒸发中心平面中设有蒸发装置、电子束发射装置,所述蒸发装置、电子束发射装置分别对应挡板设置。
2.根据权利要求1所述的一种蒸发镀膜制作装置及制作蒸发镀膜的方法,其特征在于:所述蒸发装置设为坩埚,且坩埚用于放置镀膜材料;所述电子束发射装置设为电子枪。
3.一种涉及权利要求1或2蒸发镀膜制作装置的一种制作蒸发镀膜的方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:
S1;建立在真空环境中,且真空度在1 x 10-5mbr以上的电子束蒸发镀膜的数学公式
其中:T——一定时间内蒸发点上方基片上某点的成膜厚度nm
K——与蒸发材料,蒸发参数有关的常数
α——蒸发点与成膜点空间连线与蒸发中心垂直法线的夹角
L——蒸发点与成膜点空间连线的长度cm
n——余弦指数,因蒸发材料,蒸发控制参数而不同,由厚度实验及拟合测得;
S2;为使基片上各点的膜厚相同,制作一块挡板,以挡住多余的膜材料,使得基片上不论离转轴的旋转中心远近都有相同的膜厚度;
其中基片是在旋转的,所以等半径的环带上的膜厚是相同的,也即在R半径环带上任意点的膜厚TR:
其中α是R与β的函数
另外在距旋转中心最远的环带是膜最薄的地方,在设定最薄环带的膜厚为Tmin,则需要再设置挡板,使得挡板挡住多余的膜后,任一点的膜厚都等于Tmin即
TR=Tmin R=0-Rmax。
4.根据权利要求3所述的制作蒸发镀膜的方法,其特征在于:所述制作蒸发镀膜的方法还包括步骤S3计算TR,在设定Rmax=60,R0=30cm,转盘高度H=63.5cm时,N=R cosβ,M=Rsinβ,D=R0-N,
5.根据权利要求3所述的制作蒸发镀膜的方法,其特征在于:所述制作蒸发镀膜的方法还包括步骤S4制作excel表格,横向单位为任意点距旋转中心的半径R,纵向单位为旋转中心与蒸发装置中间位置的蒸发中心法线,与该点在蒸发平面投影点与旋转中心之间的夹角β;
其中:计算N,M的长度:N=R cosβ,M=Rsinβ;
计算D和a的长度:D=R0-N,计算夹角α
∵tg
∴
计算每一半径R的弧段上的T:
同一半径上的膜厚相同,为
并将角度分为10°一等分,R分为2cm一等分,可计算出各个R环带的TR。如果分得足够细,就可以取得足够的精确度。
6.根据权利要求3所述的制作蒸发镀膜的方法,其特征在于:所述制作蒸发镀膜的方法还包括步骤S5设定基准TR,即设定Tmin观察哪个TR最小,即为基准Tmin因为对称性,β只要计算180°。
7.根据权利要求6所述的制作蒸发镀膜的方法,在所述S5步骤中,按照基准Tmin删除掉多余的弧段内的TRi设为零,直至∑TRi≈Tmin;并去掉的弧段即为挡板遮挡的部分,删掉部分为靠近β=0附近的弧段,以便于有效隔挡和便利挡板。
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