[发明专利]瓶底缺陷检测系统及方法在审
申请号: | 202010328695.1 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN111351754A | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 钟球盛;侯文峰;吴隽;陈雄;杨兴波;庞炯林 | 申请(专利权)人: | 广州番禺职业技术学院 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/90 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 陈旭红;吕金金 |
地址: | 510000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 瓶底 缺陷 检测 系统 方法 | ||
1.一种瓶底缺陷检测系统,其特征在于,包括:光源、反射镜阵列、集光装置、拍摄装置和控制装置;
所述光源对位于检测位置的待检测产品的底部进行照射;所述反射镜阵列接收经所述底部的若干等分区域反射的若干束携带有底部信息的回光,并分别将各个所述等分区域反射的回光传输至所述集光装置;所述集光装置将所述若干束回光无重叠的反射至所述拍摄装置的视野范围内;
所述拍摄装置根据采集到的所述若干束回光生成包括每一所述等分区域的底部图像并将所述底部图像发送至所述控制装置;所述控制装置根据所述底部图像对所述待检测产品的底部缺陷进行识别并输出识别结果。
2.如权利要求1所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述反射镜阵列包括若干反射镜组;所述反射镜组的个数与所述底部包含的等分区域的个数相等;
每一所述反射镜组接收对应接收一个所述底部的等分区域反射的回光并将接收到的所述回光反射至所述集光装置;所述集光装置与水平方向成45度的安装角;所述集光装置为反射镜。
3.如权利要求2所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,经所述若干反射镜组反射的所述若干束回光入射至所述集光装置时每一束所述回光的入射光点平行排列且无重叠。
4.如权利要求1-3任一项所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述系统还包括:产品传输装置和光电传感器;所述光电传感器与所述控制装置连接;
设置在流水线上的所述产品传输装置运输所述待检测产品通过所述检测位置;所述光电传感器设于所述检测位置上方。
5.如权利要求4所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述系统还包括产品剔除装置;所述产品剔除装置与所述控制装置连接;
所述产品剔除装置用于当所述控制装置输出的识别结果为次品时将位于所述检测位置的所述待检测产品剔除。
6.如权利要求1所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述系统还包括所述拍摄装置的定位夹紧部件、所述光源的定位夹紧部件和所述光电传感器的定位夹紧部件。
7.如权利要求1所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述产品传输装置设有产品限位部件。
8.如权利要求1所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于,所述底部包括5个等分区域;所述反射镜阵列包括5个反射镜组。
9.一种瓶底缺陷检测方法,其特征在于,应用于如权利要求1至9任一项所述的瓶底缺陷检测系统;
所述瓶底缺陷检测方法包括由所述控制装置执行的以下操作:
接收设于检测位置的光电传感器发送的检测信号;
若所述检测信号超出阈值,则控制拍摄装置对视野范围内的光信号进行采集生成包括待检测产品的底部中每一所述等分区域的底部图像;
接收所述拍摄装置发送的所述底部图像,根据所述底部图像对所述待检测产品的底部缺陷进行识别并输出识别结果。
10.如权利要求1所述的瓶底缺陷检测系统,其特征在于:
所述待检测产品的底部缺陷类型包括瓶底歪底、积料、粘胶、缺环、双环、拉丝、吊环偏移、缺口、突底或吹不饱满情况;
所述系统的检测速度为在实际运用中每秒至少对8个所述待检测产品进行瓶底缺陷检测。
所述系统的检测精度在实际运用中高于0.05mm;
所述系统的检测准确度在实际运用中高于98%。
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