[发明专利]一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法

权利要求书

1.一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法，其特征在于，包括如下步骤，

步骤1，将一系列不同质量的硫化钼和聚四氟乙烯单体混合均匀，聚四氟乙烯单体的粒径为100-500μm，得到对应的混合物，硫化钼占对应混合物的质量百分比分布范围为0.05％-2.00％；

其中，相同硫化钼质量百分比的混合物形成一个组，不同硫化钼质量百分比的混合物为4～6个组且在0.05％-2.00％之间均匀分布；

步骤2，将0.5-1.50g对应的混合物采用粉末压片法压制，压制前进行烘干处理，之后在干燥器中冷却，在压制时采用双面辅助去粘压片的方式进行，压力为5-15MPa，保压5-10s，成型后减压取出并进行编号，吹去压片表面的残余，制成一系列厚度为0.3-3.0mm的表面光滑和无裂纹的饼状压片，将这些压片使用X射线荧光光谱仪进行检测，选择测定的能量为17.44KeV，电压为20-50KV，工作功率为2-6KW，PHD范围为25-75，测得对应的特征X射线荧光强度；

同一个组压片得到的特征X射线荧光强度取平均值与对应硫化钼的质量百分比形成一组数据，进而得到若干组数据；

步骤3，将步骤2得到的若干组数据中的特征X射线荧光强度对硫化钼的质量百分比进行回归，获得测定聚四氟乙烯塑料中钼含量的校准曲线；

步骤4，从待检测样品中取样，然后按与获得该校准曲线相同的制样步骤进行制样，之后分为两种情况，

第一，按与获得该校准曲线相同的测定步骤获得该样品的特征X射线荧光强度，最后结合步骤3中获得的校准曲线对应的回归方程进行计算，得到待检测样品中钼的含量；

第二，按与获得该校准曲线相同的测定步骤直接在X射线荧光光谱仪上读取钼的质量百分比，最后将所得的质量百分比乘以该校准曲线对应的回归方程与所述X射线荧光光谱仪上内置的回归方程的斜率比，得到待检测样品中钼的含量。

2.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法，其特征在于，当所述的混合物为6组时，硫化钼占对应混合物的质量百分比分别为0.05％、0.10％、0.20％、0.50％、1.00％和2.00％。

3.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法，其特征在于，每组混合物的个数不少于6个；当每组混合物的个数为6个时，在步骤2压制压片时一次平行制压3个压片，共制压2次。