[发明专利]影像分析系统及影像分析方法在审

专利信息
申请号: 202010331956.5 申请日: 2020-04-24
公开(公告)号: CN113554585A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 吴东郁;廖俊谚;吴俊昇;蔡高财;黄兆义 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/62;G06T7/73;G06N3/04;G06N3/08;G01B15/00;G01N23/2251
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王涛;汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 影像 分析 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种影像分析系统,其特征在于,包含:

一影像获取装置,用以获取一待分析影像;以及

一处理器,用以将所述待分析影像输入至一区域卷积神经网络模型,所述区域卷积神经网络模型输出一遮罩影像,所述处理器计算所述遮罩影像中的一遮罩物件的一中心,将所述中心视为一坐标原点,往相对所述坐标原点的四个象限分别搜寻与所述坐标原点距离最远的一最远坐标点,对于每个所述最远坐标点产生一影像分析区块,并将所述影像分析区块进行一后处理,以取得一物件范围。

2.根据权利要求1所述的影像分析系统,其特征在于,所述影像分析区块包含一当前分析区块,所述处理器还用以在进行所述后处理时,将所述当前分析区块进行一平滑化处理。

3.根据权利要求2所述的影像分析系统,其特征在于,所述处理器还用以在进行所述后处理时,垂直扫描所述当前分析区块的每个像素,当所述处理器在垂直扫描所述当前分析区块的一第一像素行时,计算所述第一像素行中的所有像素各自的一第一像素强度,所述第一像素强度形成一第一像素曲线,计算所述第一像素曲线的斜率,以得到一第一斜率曲线,将所述第一斜率曲线的最大值标示为一标示点;其中所述处理器还用以垂直扫描所述当前分析区块的每个像素,以取得多个标示点,计算所述标示点所对应的一强度平均值,将所述强度平均值乘以一参数,以取得一门槛值,将所述像素强度低于所述门槛值的所述标示点过滤后,将剩余的所述标示点代入一线性回归演算法,以取得一回归线段。

4.根据权利要求3所述的影像分析系统,其特征在于,所述处理器还用以垂直扫描所述回归线段的每个像素,当所述处理器在垂直扫描所述回归线段的一第二像素行时,计算所述第二像素行中的所有像素各自的一第二像素强度,所述第二像素强度形成一第二像素曲线,计算所述第二像素曲线的斜率,以得到一第二斜率曲线,将所述第二斜率曲线的最大值的坐标视为一第一关键点;其中所述处理器还用以计算一第二关键点,并计算所述第一关键点与所述第二关键点之间的距离,以取得一关键尺寸。

5.根据权利要求4所述的影像分析系统,其特征在于,所述处理器还用以计算多个关键点,所述关键点为所述物件范围的一右下角、一左下角、一左上角及一右上角,所述处理器计算对应所述右上角的关键点与对应所述左下角的关键点的一中间位置,并将所述中间位置与一底部关键尺寸的距离视为一高度;其中所述处理器还用以计算多个关键尺寸,所述关键尺寸包含一上部关键尺寸、所述底部关键尺寸及所述高度,所述处理器依据所述关键尺寸以取得所述物件范围;其中所述处理器将对应所述右上角的关键点与对应所述左上角的关键点相连,以取得所述上部关键尺寸,所述处理器将对应所述右下角的关键点与对应所述左下角的关键点相连,以取得所述底部关键尺寸。

6.一种影像分析方法,其特征在于,包含:

输入一待分析影像至一区域卷积神经网络模型,所述区域卷积神经网络模型输出一遮罩影像;

计算所述遮罩影像中的一遮罩物件的一中心;

将所述中心视为一坐标原点,往相对所述坐标原点的四个象限分别搜寻与所述坐标原点距离最远的一最远坐标点;

对于每个所述最远坐标点产生一影像分析区块;以及

将所述影像分析区块进行一后处理,以取得一物件范围。

7.根据权利要求6所述的影像分析方法,其特征在于,所述影像分析区块包含一当前分析区块,所述处理器还用以在进行所述后处理时,将所述当前分析区块进行一平滑化处理。

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