[发明专利]隔膜的制造方法及隔膜的制造装置在审
申请号: | 202010333075.7 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN111864160A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 今佑介;江川贵将 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | H01M2/14 | 分类号: | H01M2/14;H01M10/0525;G01N27/00;G01N27/04;G01N27/20 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 陈剑华 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 隔膜 制造 方法 装置 | ||
1.一种隔膜的制造方法,进行针对该隔膜的耐电压检查,该耐电压检查检出隔膜的缺损,所述隔膜为在基材的至少一个面上形成功能层而成。
2.根据权利要求1所述的隔膜的制造方法,针对所述隔膜的耐电压检查通过将夹有该隔膜而相向的2个电极通电来进行。
3.根据权利要求2所述的隔膜的制造方法,确定分别对所述2个电极施加的电压值,以使所述隔膜无缺损时不通电,所述隔膜有缺损时通电。
4.根据权利要求2或3所述的隔膜的制造方法,分别对所述2个电极施加的电压为直流电压且恒压。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的隔膜的制造方法,在针对所述隔膜的耐电压检查中,检出形成于所述基材和所述功能层中的至少一个上的孔或凹陷。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的隔膜的制造方法,针对所述隔膜的耐电压检查中检出隔膜的缺损,所述隔膜具有以聚芳酰胺为主成分的耐热膜、以陶瓷为主成分的膜或者以聚偏氟乙烯为主成分的膜作为所述功能层。
7.一种隔膜的制造装置,进行针对该隔膜的耐电压检查,该耐电压检查检出隔膜的缺损,所述隔膜为在基材的至少一个面上形成功能层而成。
8.根据权利要求7所述的隔膜的制造装置,具备:在针对所述隔膜的耐电压检查时夹有该隔膜而相向的2个电极,
针对所述隔膜的耐电压检查为通过将所述2个电极通电而进行。
9.根据权利要求8所述的隔膜的制造装置,确定分别对所述2个电极施加的电压值,以使所述隔膜无缺损时不通电,所述隔膜有缺损时通电。
10.根据权利要求8或9所述的隔膜的制造装置,分别对所述2个电极施加的电压为直流电压且恒压。
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